[发明专利]一种图像处理类IP的可约束随机验证方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及图像处理领域，尤其涉及一种图像处理类IP的可约束随机验证方法和装置。

背景技术

随着科学技术的发展，多媒体的应用也越来越广泛，尤其是拍照技术的应用成为多媒体技术非常重要的一部分。摄像头采集图像时由于受到光线、温度以及自身的固有特性等很多因素的影响，所以需要对采集到的图像数据进行处理验证后，才能得到人眼所看到的图像相同的图像，因而对采集到的图像数据进行处理验证就成为很重要的一门技术。

目前，对采集到的图像数据进行处理验证的方法包括：预先设计测试用例，通过手动输入的方式逐一对测试用例进行一一验证，将待测电路与参考模型进行比对，完成对图像处理的验证。对于测试人员而言，这种方法工作量极大，且效率低下。因为是采用手动输入测试用例的方式来进行验证，很容易发生错误，在编程领域，小小的错误都很可能酿成巨大的灾难。此外，因为预先设计的定向测试用例，测试没有延伸，测试用例很难覆盖所有的约束条件，无法完全满足实际需要。

综上所述，如何在对图像数据进行处理验证时，减少测试的工作量，提升验证效率，减轻测试人员的压力，并保证测试用例可以全方位覆盖图像处理过程中的各种可能性，是图像处理领域一个亟需解决的问题。

发明内容

为此，需要提供一种图像处理类IP的可约束随机验证的技术方案，用以解决在对图像数据进行处理验证时，测试工作量大、效率低下、风险高、测试用例无法全面覆盖所有图像处理情况的问题。

为实现上述目的，发明人提供了一种图像处理类IP的可约束随机验证方法，包括步骤：

参数配置模块对参数进行约束；

参数生成模块生成待测电路的配置参数，按照受约束随机方案生成测试用例，并将测试用例发送给待测电路和参考模型模块；

待测电路接收参数生成模块生成的随机测试用例，并输出该测试用例对应的测试结果；

参考模型模块接收参数生成模块生成的随机测试用例，并输出该测试用例对应的模拟结果；

校验模块将该测试用例对应的测试结果和模拟结果进行比对。

进一步地，所述步骤“参数生成模块随机生成待测电路的配置参数”具体包括：

参数生成模块以时间为种子随机生成待测电路的配置参数。

进一步地，所述方法还包括：

覆盖率统计收集模块对参数生成模块生成的测试用例进行统计，并判断参数生成模块生成的测试用例是否已经全部覆盖参数生成模块所能生成的全部测试用例，若是则参数生成模块结束生成待测电路的配置参数，否则参数生成模块随机生成配置参数。

进一步地，所述方法还包括：

控制分析模块在校验模块判定测试用例对应的测试结果和模拟结果不一致后，输出该测试用例。

发明人还提供了一种图像处理类IP的可约束随机验证装置，所述装置包括参数配置模块，参数生成模块，测试结果输出模块，参考模型模块和校验模块；所述参数配置模块和参数生成模块连接，所述测试结果输出模块和参数生成模块连接，所述参考模型模块和参数生成模块连接，所述校验模块与测试结果输出模块连接，所述校验模块与所述参考模型模块连接；

所述参数配置模块用于对参数进行约束；

所述参数生成模块用于生成待测电路的配置参数，按照受约束随机方案生成测试用例，并将测试用例发送给待测电路和参考模型模块；

所述测试结果输出模块用于待测电路接收参数生成模块生成的测试用例，并输出该测试用例对应的测试结果；

所述参考模型模块用于接收参数生成模块生成的随机测试用例，并输出该测试用例对应的模拟结果；

所述校验模块用于将随机测试用例对应的测试结果和模拟结果进行比对。

进一步地，所述参数生成模块随机生成待测电路的配置参数具体包括：

参数生成模块以时间为种子随机生成待测电路的配置参数。

进一步地，所述装置还包括覆盖率统计收集模块，所述覆盖率统计收集模块和参数生成模块连接，所述覆盖率统计收集模块用于对参数生成模块生成的测试用例进行统计，并判断参数生成模块生成的测试用例是否已经全部覆盖参数生成模块所能生成的全部测试用例，若是则参数生成模块结束生成配置参数，否则参数生成模块随机生成配置参数。

进一步地，所述装置还包括控制分析模块，所述控制分析模块与所述校验模块连接，所述控制分析模块用于在校验模块判定测试用例对应的测试结果和模拟结果不一致后，输出该测试用例。