[发明专利]一种集成电路检测方法、装置及系统

权利要求书

1.一种印制电路板，其特征在于，包括：

N个检测电路，每个所述检测电路连接一个不同的集成电路，所述检测电路设置有第一检测点和第二检测点，所述检测电路用于检测与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数，所述N为大于等于1的整数；

其中，所述第一检测点与所述印制电路板的电源管脚连接，所述第二检测点与所述集成电路的电源管脚连接；

或者，所述第一检测点与所述集成电路的功能管脚连接，所述第二检测点与所述集成电路的外围电路连接。

2.根据权利要求1所述的印制电路板，其特征在于，所述检测电路包括至少一个电阻或至少一个磁性器件。

3.一种检测装置，其特征在于，包括：

检测控制模块，用于设置检测仪表的检测状态，所述检测装置包括所述检测仪表；

所述检测控制模块还用于:控制所述检测仪表连接处于上电状态下的印制电路板的检测电路的第一检测点和第二检测点，所述印制电路板包括N个检测电路，每个所述检测电路连接一个不同的集成电路，所述检测电路设置有第一检测点和第二检测点，所述检测电路用于检测与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数，所述N为大于等于1的整数；其中，所述第一检测点与所述印制电路板的电源管脚连接，所述第二检测点与所述集成电路的电源管脚连接；或者，所述第一检测点与所述集成电路的功能管脚连接，所述第二检测点与所述集成电路的外围电路连接；

所述检测仪表，用于检测所述检测电路得到第一检测结果，所述第一检测结果包括与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数；

检测数据处理模块，用于根据所述第一检测结果判断所述与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数是否正常。

4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述检测数据处理模块具体用于：

判断所述第一检测结果是否在第一预设范围内，所述第一预设范围为与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数的预设范围；

若所述第一检测结果在第一预设范围内，确定所述与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数正常；

若所述第一检测结果不在第一预设范围内，确定所述与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数异常。

5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，

所述检测控制模块还用于:控制所述检测仪表连接所述集成电路的功能管脚和电源管脚，以及所述集成电路的功能管脚和接地管脚；

所述检测仪表还用于：检测所述集成电路得到第二检测结果，所述第二检测结果包括所述集成电路的功能管脚的电气参数；

所述检测数据处理模块还用于：根据所述第二检测结果判断所述集成电路的功能管脚的电气参数是否正常。

6.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述检测数据处理模块具体用于：

判断所述第二检测结果是否在第二预设范围内，所述第二预设范围为所述集成电路的功能管脚的电气参数的预设范围；

若所述第二检测结果在第二预设范围内，确定所述集成电路的功能管脚的电气参数正常；

若所述第二检测结果不在第二预设范围内，确定所述集成电路的功能管脚的电气参数异常。

7.根据权利要求3-6任意一项权利要求所述的检测装置，其特征在于，所述电气参数包括总电流、导通电阻和电压中至少一个。

8.一种集成电路检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1-2所述的印制电路板和如权利要求3-7所述的检测装置，包括：

所述检测装置设置检测仪表的检测状态，所述检测装置包括所述检测仪表；

所述检测装置连接处于上电状态下的所述印制电路板的检测电路的第一检测点和第二检测点；

所述检测装置的检测仪表检测所述检测电路得到第一检测结果，所述第一检测结果包括与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数；

所述检测装置根据所述第一检测结果判断所述与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数是否正常。