[发明专利]一种多DUT并行测试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及测试领域，尤其涉及一种多DUT并行测试方法及系统。

背景技术

通常的DUT测试方案都是一对一或者使用乒乓连接方式进行测试。对应DUT的生产厂家而言，效率和测试精度是他们最关心的事情。所以一套并行测试DUT的方案就尤为显的重要了。

目前的DUT测试时序分解：测试时仪器占用时间的切片颗粒度大小决定测试时间长短，切片颗粒度越细，测试时间越短。反之亦然。目前绝大部分的测试软件对仪器控制的时间切片颗粒度都很大。我们以测试DUT的TX来说明，基本流程：(1)DUT设置一＞(2)仪器设置→(3)DUT开始发送数据→(4)仪器采集数据→(5)数据分析→(6)判断结果→(7)DUT停止发送数据。时间切片的颗粒度是(1)～(7)的整个过程。

图1是目前技术的一对一连接图，图2是目前技术的乒乓测试连接图。

(一)：对应传统的一对一或者乒乓测试DUT，有一个比较大的弊端就是效率不高。一台电脑加一台仪器只能测试一个DUT，这种测试方式是目前产线上最常见的测试方式。

(二)：为了提高测试效率，进行乒乓的组网方式；一台WLAN综测仪每一个RF口连接一个无线AP，WLAN综测仪和多台PC通过以太网连接的组网方式，然后通过产测软件进行一对一的乒乓测试。当其中一台PC的产测软件进行测试时，其他PC的产测软件等待仪器空闲，通过100ms左右的轮询方式查询WLAN综测仪是否空闲，如果空闲则抢占的方式连接；这样依次类推完成一台WLAN综测仪一次测试完多个AP的测试。

针对上面的两种连接测试方法，各自主要有下面几个方面的缺陷和不足：

(1)：一台PC，一台WLAN综测仪，一个无线AP，单线程或者进程的组网方式使WLAN综测仪的占用率从产测连接仪器开始，到产测释放仪器。这段时间内并不是每时每刻仪器都处于使用状态，而是很大部分时间耗费在控制DUT部分，导致测试效率不高。例如在控制DUT进入测试模式耗时比较久，而这段时间仪器是空闲的。如图3所示，其中TX/RX表示使用仪器的时间。而”H&B”表示产测软件此时只控制DUT而仪器处于空闲时间。

(2)：乒乓组网方式只是比方式(1)提高了轮换AP的时间，本质上和方式(1)没有什么区别。但是方式(2)的效率还是要比方式(1)要高。主要体现在：当上一个AP测试流程到与仪器无关时，产测软件可以断开仪器连接，从而使其他产测软件能及时的连接仪器并测试。如图4所示对仪器的占用时间和正常模式没区别，都是串行，都有很大的时间颗粒度。

上述两种方案，仪器占用的时间颗粒度太大。导致仪器使用率不高；根据时间分片流程可以看到真正使用仪器的流程只有：仪器设置，数据采集。另外其他流程都不需要占用仪器，因而我们可以充分利用这些空闲时间来达到提高仪器使用率。

发明内容

为了解决现有技术中的问题，本发明提供了一种多DUT并行测试方法。

本发明提供了一种多DUT并行测试方法，在终端中执行如下步骤：

构造步骤，构造多个线程或者进程，每一个线程或者进程用于控制一个DUT，各个线程或进程相互独立；

同步运行步骤，每一个线程或者进程分别独立连接测试仪，在控制DUT时，各个线程或者进程同步运行；

仪器抢占步骤，当一个线程或进程完成对测试仪的操作后，该线程或进程立即释放测试仪资源，从而其他的线程或者进程能够接着使用测试仪。

作为本发明的进一步改进，在所述构造步骤中包括线程的管理，在线程的管理中：主程序由第一层的UI主线程启动，第二层的多个子线程负责控制DUT和UI主线程通信，多个子线程统一由UI主线程管理，并互相通信和查看内存信息；第三层是一个测试仪申请使用管理的管理线程，第二层的线程要使用测试仪必须提出仪器申请请求，并等待结果；第四层是测试仪应用线程，用于控制测试仪，并采集DUT的信号指标。

作为本发明的进一步改进，在所述构造步骤中，各个层次互相独立，采用异步调用方式。

作为本发明的进一步改进，在所述仪器抢占步骤中，在抢占测试仪使用时，调度方法是：各个线程/进程向仪器管理线程提交使用仪器的请求，实行FIFO策略，分配仪器的控制权。

作为本发明的进一步改进，该多DUT并行测试方法中包括终端、测试仪、多个DUT，终端与测试仪相连，终端分别与多个DUT相连，测试仪设有多个RF口，多个DUT分别与多个RF口一一相连。

本发明还提供了一种多DUT并行测试系统，该多DUT并行测试系统包括终端，在终端中包括：