[发明专利]带状线法介电性能测试系统在审

专利信息
申请号: 201510047386.6 申请日: 2015-01-29
公开(公告)号: CN104569616A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 贾燕;张永华;邬宁彪;陈文录;李小明;石小传;刘立国;唐亚彬 申请(专利权)人: 无锡江南计算技术研究所
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 龚燮英
地址: 214083 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 带状线 法介电 性能 测试 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及介电性能测试领域,更具体地说,本发明涉及一种带状线法介电性能测试系统。

背景技术

介电性能是高频印制基材重要的性能参数之一,准确测试高频印制基材的介电性能对高频电路设计、高频电子产品的生产、定型和调试都是至关重要的;对于某些应用,印制板的介电常数的测试精度要求在2%以内。

介电性能的测试精度与频率、均匀性、各向异性、温度、表面粗糙度等因素相关,对于各向异性材料,测试场方向是至关重要的。高频印制基材是由有机树脂和增强材料等多组分组成的各向异性材料。随着电子装备不断向高频、低损耗的方向发展,高频印制基材测试频率从最初的1MHz提高到现在的10GHz,甚至到20GHz。

虽然介电性能测试方法的研究从上世纪中期就有文献报道,但随着测试频率的不断提高,材料的不断发展,许多测试方法并不适合高频印制基材。因此,选择合适的测试方案对其进行研究对高频印制基材的发展具有重要的现实意义。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术中存在上述缺陷,提供一种能够测试安装方便并且能够满足高频印制基材损耗精度测试高的要求的带状线法介电性能测试系统。

为了实现上述技术目的,根据本发明,提供了一种带状线法介电性能测试系统,包括:叠层测试样品、用于夹持叠层测试样品的测试夹具、用于对测试夹具进行加压以去除叠层测试样品中的残留空气的加压装置、用于与测试夹具的第一端耦合的第一耦合装置、用于与测试夹具的第二端耦合的第二耦合装置、与第一耦合装置固定的第一位移台、与第二耦合装置固定的第二位移台、用于辅助测试夹具与第一耦合装置和第二耦合装置之间的耦合的视觉放大系统、与第一耦合装置和第二耦合装置连接的矢量网络分析仪、以及与矢量网络分析仪连接的控制处理装置。

优选地,矢量网络分析仪连接至带状线谐振器,并且矢量网络分析仪激发带状线谐振器产生谐振,通过第一耦合装置和第二耦合装置将谐振信号传递至叠层测试样品。

优选地,矢量网络分析仪接收从叠层测试样品获取的测试结果数据,并将测试结果数据传递至控制处理装置。

优选地,控制处理装置用于对测试结果数据进行处理以确定叠层测试样品的介电性能。

优选地,叠层测试样品包括第一测试基片和第二测试基片,其中第一测试基片表面的铜箔被完全蚀刻掉,第二测试基片表面中央保留预定尺寸的传输线作为带状线,而且第一测试基片与第二测试基片以传输线处于重叠面的方式对齐层叠在一起以形成叠层测试样品。

优选地,控制处理装置是计算机。

优选地,矢量网络分析仪通过GPIB总线连接至控制处理装置。

本发明提供了一种能够测试安装方便并且能够满足高频印制基材损耗精度测试高的要求的带状线法介电性能测试系统。

附图说明

结合附图,并通过参考下面的详细描述,将会更容易地对本发明有更完整的理解并且更容易地理解其伴随的优点和特征,其中:

图1示意性地示出了根据本发明优选实施例的带状线法介电性能测试系统的框图。

图2示意性地示出了根据本发明优选实施例的带状线法介电性能测试系统采用的叠层测试样品。

图3示意性地示出了根据本发明优选实施例的带状线法介电性能测试系统采用的叠层测试样品的第一基片。

图4示意性地示出了根据本发明优选实施例的带状线法介电性能测试系统采用的叠层测试样品的第二基片。

需要说明的是,附图用于说明本发明,而非限制本发明。注意,表示结构的附图可能并非按比例绘制。并且,附图中,相同或者类似的元件标有相同或者类似的标号。

具体实施方式

为了使本发明的内容更加清楚和易懂,下面结合具体实施例和附图对本发明的内容进行详细描述。

图1示意性地示出了根据本发明优选实施例的带状线法介电性能测试系统的框图。

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