[发明专利]输入装置有效
| 申请号: | 201510046434.X | 申请日: | 2015-01-29 |
| 公开(公告)号: | CN104808842B | 公开(公告)日: | 2017-12-22 |
| 发明(设计)人: | 波多野直行;山田朋辉 | 申请(专利权)人: | 阿尔卑斯电气株式会社 |
| 主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 杨谦,房永峰 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 输入 装置 | ||
技术领域
本发明涉及在计算机、智能手机等信息设备中信息的输入所使用的输入装置,尤其涉及确定手指或笔等物体与操作面接近的区域,并基于该确定出的区域来输入信息的输入装置。
背景技术
作为笔记本型PC、平板终端、智能手机等信息设备的输入接口,具备对手指或笔等物体的接触位置进行检测的传感器的触摸盘或触摸面板等的装置已广泛普及。在对物体的接触位置进行检测的传感器中,有电阻膜方式、静电电容方式等各种类型的传感器,近年来,采用能够应对对多个接触位置进行检测的“多点触控”的静电电容方式的传感器正在增加。
在一般的静电电容方式的传感器中,在被配置成栅格状的多个电极中检测电极间的静电电容(相互电容)、电极与接地之间的静电电容(自身电容)。下述的专利文献1所记载的静电电容式触摸传感器具有沿X方向布线的多个X电极、和沿Y方向布线的多个Y电极(图1)。若手指等操作体接近X电极(Y电极),则在操作体与X电极(Y电极)之间形成静电耦合,X电极(Y电极)的静电电容增加。通过监视各X电极、Y电极中的静电电容,能够检测操作体的接近位置。
专利文献1:日本特开2012-198607号公报
在上述的专利文献1所记载的输入装置中,根据对象坐标以及在对象坐标的前后取得的规定量的坐标来进行移动平均,通过将其平均值设定为修正坐标来进行噪声的除去。通过实施这样的噪声除去,即便是在噪声多的环境下也可抑制坐标的不稳等,难以产生误动作。然而,如果针对传感器的输出信号进行移动平均等噪声除去处理,则由于导致高频域分量衰减,所以针对传感器的输入的响应变慢。在专利文献1所记载的输入装置中,由于即便是在噪声少的环境中也进行与噪声多的环境同样的噪声除去处理,所以存在因噪声除去处理而引起的延迟较大这一问题。
发明内容
本发明鉴于上述情况而提出,其目的在于,提供一种能够在噪声多的环境下减轻噪声的影响并且能够在噪声少的环境下减少响应延迟的输入装置。
本发明涉及的输入装置具备:传感器部,在多个检测位置检测物体的接近状态,输出该检测结果作为检测数据;位置数据计算部,基于所述多个检测位置处的所述检测数据,来计算表示物体的接近位置的位置数据;滤波器部,进行第一处理和第二处理中的至少一方,所述第一处理将从所述传感器部输出的所述检测数据中所含的噪声的影响减轻并输入至所述位置数据计算部,所述第二处理将从所述位置数据计算部输出的所述位置数据中所含的噪声的影响减轻;和噪声量计算部,计算所述检测数据中所含的噪声量。所述滤波器部根据在所述噪声量计算部中计算的噪声量,变更所述第一处理和所述第二处理中的至少一方的处理方法,以使得所述噪声量越大则噪声的影响的减轻量越变大,所述噪声量越小则噪声的影响的减轻量越变小。
根据上述的构成,在使所述检测数据中所含的噪声的影响减轻的所述第一处理、使所述位置数据中所含的噪声的影响减轻的所述第二处理中,可按照所述检测数据中所含的所述噪声量越大则噪声的影响的减轻量越变大、所述噪声量越小则噪声的影响的减轻量越变小的方式,变更处理方法。
优选所述滤波器部进行第一低通滤波处理和第二低通滤波处理中的至少一方,所述第一低通滤波处理使从所述传感器部输出的所述检测数据中所含的噪声衰减并输入至所述位置数据计算部,所述第二低通滤波处理使从所述位置数据计算部输出的所述位置数据中所含的噪声衰减。另外,所述滤波器部也可以根据在所述噪声量计算部中计算出的噪声量,变更所述第一低通滤波处理以及所述第二低通滤波处理的至少一方中的噪声的衰减特性,以使得所述噪声量越大则噪声的衰减量越变大,所述噪声量越小则噪声的衰减量越变小。
根据上述的构成,在使所述检测数据中所含的噪声衰减的所述第一低通滤波处理、使所述位置数据中所含的噪声衰减的所述第二低通滤波处理中,可按照所述检测数据中所含的所述噪声量越大则噪声的衰减量越变大、所述噪声量越小则噪声的衰减量越变小的方式,变更噪声的衰减特性。因此,通过在噪声多的环境下按照低通滤波处理的噪声衰减量变大的方式变更噪声衰减特性,可减轻噪声的影响,通过在噪声少的环境下按照低通滤波处理的噪声衰减量变小的方式变更噪声衰减特性,可减少响应延迟。
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