[发明专利]光导天线、照相机、成像装置以及计测装置

权利要求书

1.一种光导天线，其特征在于，

是被照射光脉冲而产生太赫兹波的光导天线，所述光导天线包括：

第1层，其被照射所述光脉冲而形成载流子；

第2层，其位于所述第1层上方、且具有比所述第1层的载流子迁移率大的载流子迁移率；以及

第1电极以及第2电极，其位于所述第2层上方、且向所述第2层施加电压。

2.根据权利要求1所述的光导天线，其特征在于，

所述第1层由半绝缘性基板构成。

3.根据权利要求2所述的光导天线，其特征在于，

所述第1层由GaAs构成。

4.根据权利要求1所述的光导天线，其特征在于，

所述第1层由硅构成。

5.根据权利要求1～4中任意一项所述的光导天线，其特征在于，

所述第2层由以碳为主成分的材料构成。

6.根据权利要求5所述的光导天线，其特征在于，

所述第2层由石墨烯构成。

7.根据权利要求5所述的光导天线，其特征在于，

所述第2层包括碳纳米管。

8.根据权利要求1～7中任意一项所述的光导天线，其特征在于，

包括位于所述第2层与所述第1电极之间、以及所述第2层与所述第2电极之间的绝缘层。

9.一种太赫兹波产生装置，其特征在于，包括：

产生所述光脉冲的光脉冲产生装置；以及

被照射所述光脉冲而产生所述太赫兹波的权利要求1～8中的任意一项所述的光导天线。

10.一种照相机，其特征在于，包括：

产生所述光脉冲的光脉冲产生装置；

被照射所述光脉冲而产生所述太赫兹波的权利要求1～8中的任意一项所述的光导天线；

对从所述光导天线射出且透过对象物的所述太赫兹波或者被对象物反射的所述太赫兹波进行检测的太赫兹波检测部；以及

对所述太赫兹波检测部的检测结果进行存储的存储部。

11.一种成像装置，其特征在于，包括：

产生所述光脉冲的光脉冲产生装置；

被照射所述光脉冲而产生所述太赫兹波的权利要求1～8中的任意一项所述的光导天线；

对从所述光导天线射出且透过对象物的所述太赫兹波或者被对象物反射的所述太赫兹波进行检测的太赫兹波检测部；以及

基于所述太赫兹波检测部的检测结果来生成所述对象物的图像的图像形成部。

12.一种计测装置，其特征在于，

产生所述光脉冲的光脉冲产生装置；

被照射所述光脉冲而产生所述太赫兹波的权利要求1～8中的任意一项所述的光导天线；

对从所述光导天线射出且透过对象物的所述太赫兹波或者被对象物反射的所述太赫兹波进行检测的太赫兹波检测部；以及

基于所述太赫兹波检测部的检测结果来计测所述对象物的计测部。