[发明专利]一种高分辨质谱成像系统图像采集半导体薄膜、制备方法及应用

权利要求书

1.一种高分辨质谱成像系统图像采集半导体薄膜，其特征在于，其是将半导体纳米颗粒灼烧去除表面附着的有机杂质后，再经研磨处理然后置于压片机中压制成膜得到的。

2.根据权利要求1所述的高分辨质谱成像系统图像采集半导体薄膜，其特征在于，所述半导体纳米颗粒为(Bi₂O₃)_0.07(CoO)_0.03(ZnO)_0.9半导体颗粒。

3.根据权利要求1所述的高分辨质谱成像系统图像采集半导体薄膜，其特征在于，所述灼烧的温度为350℃，灼烧的时间为1小时。

4.权利要求1所述高分辨质谱成像系统图像采集半导体薄膜的制备方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)将半导体纳米颗粒在350℃马弗炉中灼烧1小时；

2)将步骤1)得到的半导体纳米颗粒进一步用玛瑙研钵磨细，使其分散均匀，得到半导体纳米粉末；

3)将步骤2)得到的半导体纳米粉末放入压片机的磨具，再放入压片机，施加压力压制得到半导体薄膜；

4)将步骤3)压制得半导体薄膜取出，室温保存。

5.根据权利要求4所述的制备方法，其特征在于，步骤3)所述压制为：2000kg～4800kg压力下压制1分钟。

6.权利要求1所述高分辨质谱成像系统图像采集半导体薄膜在隐形指纹图像分析、动物组织切片图像分析、植物组织切片图像分析中的应用。

7.根据权利要求6所述的应用，其特征在于，所述应用为：将植物组织切片，动物组织切片或隐形指纹固定或按压在高分辨质谱成像系统图像采集半导体薄膜上后，将半导体薄膜固定在样品靶上，直接放入质谱仪进行图像分析。

8.根据权利要求6～7任一所述的应用，其特征在于，所述隐形指纹图像分析的应用为：将隐形指纹直接按压于半导体薄膜表面后，固定半导体薄膜在MALDI样品靶，放入质谱仪用激光解析离解进行图像分析。

9.根据权利要求6～7任一所述的应用，其特征在于，所述动物组织切片图像分析的应用为：首先将动物组织切片置于零下八十度下冷冻，再切成20微米厚度的切片，直接转移至半导体薄膜表面，固定半导体薄膜在MALDI样品靶，放入质谱仪后用激光解析离解进行图像分析。

10.根据权利要求6～7任一所述的应用，其特征在于，所述植物组织切片图像分析的应用为：将半导体薄膜作为初膜，把植物组织切片放置于初膜表面，进一步施加压力，使组织切片填埋于半导体薄膜的纳米颗粒中后，得到含有植物组织切片的半导体薄膜，然后将其固定在MALDI样品靶，放入质谱仪后用激光解析离解进行图像分析。