[发明专利]薄膜晶体管阵列基板及显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种薄膜晶体管阵列基板及显示装置。

背景技术

DGS(Data Gate Short，栅线和数据线短接)是薄膜晶体管液晶显示器件的常见不良之一。而目前检测DGS的手段非常有限，只有在薄膜晶体管阵列基板刚做完的时候，在产线内检测DGS。当组成模组后，如果发生DGS，检测手段非常有限，甚至无法准确找到发生DGS的位置。而且在产品开发的过程中如果无法找到DGS的发生位置，就会耽误产品的开发进程。

发明内容

本发明提供一种薄膜晶体管阵列基板，用以检测DGS的发生位置。

本发明还通过一种显示装置，包括如上所述的薄膜晶体管阵列基板，用以提高产品良率。

为解决上述技术问题，本发明实施例中提供一种薄膜晶体管阵列基板，包括多条栅线和多条数据线，还包括：

第一检测线，用于传输第一检测信号；

与所述栅线或数据线一一对应设置并电性连接的第一单向导通元件，所述第一单向导通元件的另一端与所述第一检测线电性连接；

第一报警元件，当所述第一单向导通元件与栅线一一对应设置时，所述第一报警元件与数据线一一对应设置，并电性连接，当所述第一单向导通元件与数据线一一对应设置时，所述第一报警元件与栅线一一对应设置，并电性连接，所述第一报警元件用于接收第一检测信号，并输出相应的报警信号。

如上所述的薄膜晶体管阵列基板，优选的是，所述第一单向导通元件与数据线一一对应设置；

所述薄膜晶体管阵列基板还包括：

第二检测线，用于传输第二检测信号；

与栅线一一对应设置并电性连接的第二单向导通元件，所述第二单向导通元件的另一端与所述第二检测线电性连接；

与数据线一一对应设置并电性连接的第二报警元件，所述第二报警元件用于接收第二检测信号，并输出相应的报警信号。

如上所述的薄膜晶体管阵列基板，优选的是，所述第一检测线与栅线为同层结构，所述第二检测线与数据线为同层结构。

如上所述的薄膜晶体管阵列基板，优选的是，所述第一单向导通元件和第二单向导通元件为二极管。

如上所述的薄膜晶体管阵列基板，优选的是，数据线和第一检测线作为所述第一单向导通元件的两个电极；

栅线和第二检测线作为所述第二单向导通元件的两个电极。

如上所述的薄膜晶体管阵列基板，优选的是，所述第一单向导通元件和第二单向导通元件的P型半导体层为同层结构，所述第一单向导通元件和第二单向导通元件的N型半导体层为同层结构。

如上所述的薄膜晶体管阵列基板，优选的是，所述第一报警元件和第二报警元件为发光元件。

如上所述的薄膜晶体管阵列基板，优选的是，所述第一报警元件和第二报警元件为有机发光二极管。

如上所述的薄膜晶体管阵列基板，优选的是，所述第一报警元件的底电极与栅线为一体结构，所述第二报警元件的底电极与数据线为一体结构。

本发明实施例中还提供一种显示装置，包括如上所述的薄膜晶体管阵列基板。

本发明的上述技术方案的有益效果如下：

上述技术方案中，在阵列基板上设置有检测线，用于传输检测DGS的信号，当发生DGS时，检测信号通过单向导通元件从栅线(或数据线)输入，从数据线(或栅线)输出，并在数据线(或栅线)端设置报警元件，报警元件接收检测信号，输出相应的报警信号。其中，单向导通元件与栅线(或数据线)的位置一一对应，报警元件与数据线(或栅线)的位置一一对应，通过获取所述报警信号，即可确定发生DGS的位置。即使组装模组后，只需关闭模组，输入检测信号，就可以进行DGS检测。单向导通元件的设置，使得检测组件的设置不会影响模组的正常工作。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1表示本发明实施例中薄膜晶体管阵列基板的俯视图一；

图2表示本发明实施例中薄膜晶体管阵列基板的俯视图二；

图3表示图2的局部示意图；

图4-图8表示本发明实施例中薄膜晶体管阵列基板的制作过程示意图。

具体实施方式