[发明专利]一种微细片层矿物径厚比的测算方法

权利要求书

1.一种微细片层矿物径厚比的测算方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)将样品粉末配成溶液；

(2)调整溶液的PH值；

(3)向溶液添加分散剂分散；

(4)对溶液进行超声波分散，制备悬浮液；

(5)取适量悬浮液均匀分散于电阻法仪器的样品杯中，并将抽空空气但充满所述电解液的微孔管放置在所述电解液中，在所述微孔管内外的电解液中安装正负两个电极，并在所述电极的两端施加预定的电压；

(6)取适量样品粉末，干燥、镀膜，利用扫描电镜或者透射电镜测量；

(7)根据所得公式计算径厚比。

2.根据权利要求1所述的测算方法，其特征在于，所述步骤(1)中，所述的片层样品与去离子水混合的质量比为1:3～15。

3.根据权利要求1所述的测算方法，其特征在于，所述步骤(1)中，所述离子水必须为0.2-0.45μm过滤去离子水，优选0.2μm过滤膜。

4.根据权利要求1所述的测算方法，其特征在于，所述步骤(2)中，滴加氢氧化钠或碳酸氢钠溶液调节PH值使得片层样品溶液保持微碱性，其pH值保持在7.5-11之间，优选8-10。

5.根据权利要求1所述的测算方法，其特征在于，所述步骤(3)中，所述分散剂选用焦磷酸钠、六偏磷酸钠、聚丙烯酰胺、聚丙烯酸钠、氨基酸盐中一种或几种联用，分散剂与水的比例为0.1-1％之间，优选0.2-0.5％。

6.根据权利要求1所述的测算方法，其特征在于，所述步骤(4)中，超声波分散，所需时间为10—30分钟，优选20分钟。

7.根据权利要求1所述的测算方法，其特征在于，所述步骤(5)中，选用仪器为以电阻法测试粒度的仪器，包括美国贝克曼库尔特粒度仪、亚欧/DP-RC-3000型电阻法粒度仪、OMEC-RC-2100型电阻颗粒计数仪等中的一种，优选美国贝克曼库尔特粒度仪。

8.根据权利要求1所述的测算方法，其特征在于，所述步骤(5)中，将片层样品悬浮液均匀分布于电解液中，浓度应为2％-10％，优选5％-8％。

9.根据权利要求1所述的测算方法，其特征在于，所述步骤(5)中，针对所测片层样品的粒径大小，选择合适的微孔管，微孔管大小为样品粒径的1.5-50倍。

10.根据权利要求1所述的测算方法，其特征在于，所述步骤(6)中，选用仪器为以图像 法测试粒度的仪器，包括日立S-4800电子扫描显微镜、日本JSM35CF电子扫描显微镜等。

11.根据权利要求1所述的测算公式，其特征在于，所述步骤(7)中，根据所述电极之间的脉冲信号和SEM图像计算获得所述片层样品的径厚比公式为：

式中，d为扫描电镜或透射电镜测试的平均底面直径，d_c为电阻法测试的颗粒等效粒。