[发明专利]微带天线阵列的测试方法

权利要求书

1.一种微带天线阵列的测试方法，包括如下步骤：

制作金属箔，所述金属箔的宽度和长度与微带天线阵元的贴片的边缘相匹配；

对微带天线阵列中的单个阵元逐一进行测试，筛选出天线参数不符合要求的阵元；

对天线参数不符合要求的阵元，逐一进行调试；当其中一个阵元进行调试时，其他阵元连接匹配的负载；

每个阵元进行调试的步骤包括：

在所述阵元上的贴片的其中至少一对边上贴上所述金属箔，测试当前调试的阵元的天线参数；

反复更换不同尺寸的金属箔，直到阵元的天线参数符合要求。

2.根据权利要求1所述的微带天线阵列的测试方法，其特征在于，所述微带天线阵列为五元阵。

3.根据权利要求2所述的微带天线阵列的测试方法，其特征在于，所述五元阵包括一个位于中心位置的阵元和四个位于方形四角的阵元。

4.根据权利要求1所述的微带天线阵列的测试方法，其特征在于，所述微带天线阵列为低频天线。

5.根据权利要求1所述的微带天线阵列的测试方法，其特征在于，每个阵元的频率范围为1268±10兆赫兹。

6.根据权利要求1所述的微带天线阵列的测试方法，其特征在于，所述天线参数为低仰角增益。