[发明专利]一种自动实现大气颗粒物粒径校正的方法及系统有效
| 申请号: | 201510007478.1 | 申请日: | 2015-01-05 |
| 公开(公告)号: | CN104596900B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
| 发明(设计)人: | 李磊;刘骝;喻佳俊;黄正旭;高伟;李梅;周振 | 申请(专利权)人: | 暨南大学;广州禾信分析仪器有限公司 |
| 主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
| 代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司44205 | 代理人: | 谭英强 |
| 地址: | 510632 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 自动 实现 大气 颗粒 粒径 校正 方法 系统 | ||
1.一种自动实现大气颗粒物粒径校正的方法,其特征在于:该方法包括:
A、获取当前的进样测量压力;
B、根据大气颗粒物的空气动力学直径、飞行时间以及进样测量压力之间的映射关系数学模型,对获取的进样测量压力进行计算处理,从而计算得出一粒径校正曲线;
C、将当前的粒径校正曲线替换为步骤B计算得出的粒径校正曲线。
2.根据权利要求1所述一种自动实现大气颗粒物粒径校正的方法,其特征在于:所述大气颗粒物的空气动力学直径、飞行时间以及进样测量压力之间的映射关系数学模型包含了球形粒子的粒径与飞行时间的拟合曲线所对应的拟合方程、进样测量压力与球形粒子的飞行时间的拟合曲线所对应的拟合方程以及常量参数;
所述球形粒子的粒径与飞行时间的拟合曲线所对应的拟合方程为第一拟合方程,所述进样测量压力与球形粒子的飞行时间的拟合曲线所对应的拟合方程为第二拟合方程。
3.根据权利要求2所述一种自动实现大气颗粒物粒径校正的方法,其特征在于:所述步骤B包括:
B1、根据获取的进样测量压力、第二拟合方程以及常量参数,从而计算出在获取的进样测量压力下不同粒径的球形粒子所对应的飞行时间;
B2、根据第一拟合方程以及计算出的不同粒径的球形粒子所对应的飞行时间,从而进行曲线拟合,以得出一粒径校正曲线。
4.根据权利要求2或3所述一种自动实现大气颗粒物粒径校正的方法,其特征在于:所述的第一拟合方程为指数形式的拟合方程,所述的第二拟合方程为二次多项式的拟合方程。
5.根据权利要求1所述一种自动实现大气颗粒物粒径校正的方法,其特征在于:所述步骤A之前还设有建立大气颗粒物的空气动力学直径、飞行时间以及进样测量压力之间的映射关系数学模型的步骤;
所述建立大气颗粒物的空气动力学直径、飞行时间以及进样测量压力之间的映射关系数学模型这一步骤,其包括:
S1、确定颗粒物粒径检测装置所能接受的进样测量压力的最大值和最小值;
S2、在进样测量压力的最大值和最小值之间选取多个不同的进样测量压力;
S3、在每一个选取的进样测量压力下,分别对多个不同粒径的球形粒子进行飞行时间的检测,从而得到在每一个选取的进样测量压力下,不同粒径的球形粒子的飞行时间;
S4、根据球形粒子的粒径以及不同粒径的球形粒子的飞行时间,从而进行曲线拟合,以得到在每一个选取的进样测量压力下,球形粒子的粒径与飞行时间的拟合曲线,所述球形粒子的粒径与飞行时间的拟合曲线所对应的拟合方程为第一拟合方程;
S5、根据多个不同的进样测量压力以及不同粒径的球形粒子的飞行时间,从而进行曲线拟合,以得到进样测量压力与球形粒子的飞行时间的拟合曲线,所述进样测量压力与球形粒子的飞行时间的拟合曲线所对应的拟合方程为第二拟合方程;
S6、使大气颗粒物的空气动力学直径、飞行时间以及进样测量压力之间的映射关系数学模型包含第一拟合方程、第二拟合方程以及所述进样测量压力与球形粒子的飞行时间的拟合曲线所对应的常量参数。
6.一种自动实现大气颗粒物粒径校正的系统,其特征在于:该系统包括:
获取单元,用于获取当前的进样测量压力;
计算处理单元,用于根据大气颗粒物的空气动力学直径、飞行时间以及进样测量压力之间的映射关系数学模型,对获取的进样测量压力进行计算处理,从而计算得出一粒径校正曲线
替换单元,用于将当前的粒径校正曲线替换为计算处理单元计算得出的粒径校正曲线。
7.根据权利要求6所述一种自动实现大气颗粒物粒径校正的系统,其特征在于:所述大气颗粒物的空气动力学直径、飞行时间以及进样测量压力之间的映射关系数学模型包含了球形粒子的粒径与飞行时间的拟合曲线所对应的拟合方程、进样测量压力与球形粒子的飞行时间的拟合曲线所对应的拟合方程以及常量参数;
所述球形粒子的粒径与飞行时间的拟合曲线所对应的拟合方程为第一拟合方程,所述进样测量压力与球形粒子的飞行时间的拟合曲线所对应的拟合方程为第二拟合方程。
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