[发明专利]一种变直流低频包络数字检测器有效
申请号: | 201510003276.X | 申请日: | 2015-01-04 |
公开(公告)号: | CN104502688B | 公开(公告)日: | 2017-04-19 |
发明(设计)人: | 卢志坚;潘兴鹏;周健军 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 直流 低频 包络 数字 检测器 | ||
1.一种变直流低频包络数字检测器,其特征在于,所述变直流低频包络数字检测器至少包括:
离散可调带隙基准电压生成器、比较器以及数字校准检测器;
所述离散可调带隙基准电压生成器根据所述数字校准检测器提供的控制比特产生离散可变的带隙基准电压;
所述比较器连接于所述离散可调带隙基准电压生成器,用于比较输入电压与所述带隙基准电压的大小,并输出比较结果;
所述数字校准检测器连接于所述比较器,用于检测所述比较器输出的比较结果并根据所述比较器输出的比较结果校准输出所述控制比特,同时定时更新输出寄存比特。
2.根据权利要求1所述的变直流低频包络数字检测器,其特征在于:所述离散可调带隙基准电压生成器包括带隙基准电流源及可调电阻阵列,所述带隙基准电流源的一端连接电源,另一端连接所述可调电阻阵列,所述可调电阻阵列的另一端接地,所述带隙基准电流源流经所述可调电阻阵列产生所述带隙基准电压。
3.根据权利要求2所述的变直流低频包络数字检测器,其特征在于:所述可调电阻阵列由所述控制比特控制,实际电阻值与所述控制比特成线性关系。
4.根据权利要求2或3所述的变直流低频包络数字检测器,其特征在于:所述可调电阻阵列中所使用的电阻类型与所述带隙基准电流源中使用的电阻类型相同。
5.根据权利要求1所述的变直流低频包络数字检测器,其特征在于:
所述数字校准检测器包括方波检测器、校准器、寄存器以及分频器;
所述方波检测器连接于所述比较器,用于判断所述比较器输出的比较结果是否为设定频率范围内的方波信号,并输出判断结果;
所述校准器连接于所述比较器及所述方波检测器,用于根据所述比较器输出的比较结果及所述方波检测器输出的判断结果的变化情况校准所述控制比特;
所述寄存器连接于所述比较器、所述方波检测器及所述校准器,用于根据所述比较器输出的比较结果及所述方波检测器输出的判断结果的变化情况寄存所述控制比特,并输出所述寄存比特;
所述分频器连接第一时钟信号,将所述第一时钟信号分频后用于驱动所述校准器及所述寄存器。
6.根据权利要求5所述的变直流低频包络数字检测器,其特征在于:所述方波检测器在所述比较器输出的比较结果的相邻两个上升沿之间的时间段进行计数,若计数结果在设定计数范围内则表示所述比较器输出的比较结果为设定频率范围内的方波信号,所述方波检测器输出的判断结果置“1”;反之,则表示所述比较器的输出的比较结果不是设定频率范围内的方波信号,所述方波检测器输出的判断结果置“0”。
7.根据权利要求5所述的变直流低频包络数字检测器,其特征在于:所述校准器设置所述控制比特为最小值,此时所述比较器输出的比较结果为预期值“1”,所述方波检测器输出的判断结果为预期值“0”,在所述分频器输出的时钟信号驱动下,所述校准器对所述控制比特进行+1操作,直到所述比较器及所述方波检测器输出的两个预期值中任何一个发生变化为止;之后所述校准器设置所述控制比特为最大值,此时所述比较器输出的比较结果为预期值“0”,所述方波检测器输出的判断结果为预期值“0”,在所述分频器输出的时钟信号驱动下,所述校准器对所述控制比特进行-1操作,直到所述比较器及所述方波检测器输出的两个预期值中任何一个发生变化为止;然后周而复始重复上述操作。
8.根据权利要求7所述的变直流低频包络数字检测器,其特征在于:所述寄存器在所述比较器及所述方波检测器输出的两个预期值中任意一个发生变化的两种情况下分别更新所述寄存比特为当前的控制比特,两种情况下的寄存比特周而复始交替更新。
9.根据权利要求8所述的变直流低频包络数字检测器,其特征在于:所述寄存器所分别寄存的两种情况下的所述寄存比特的差值就是所述输入电压的包络大小数字表达;所述寄存器所分别寄存的两种情况下的所述寄存比特和的一半就是所述输入电压的直流电压大小数学表达。
10.根据权利要求5所述的变直流低频包络数字检测器,其特征在于:所述分频器为整数分频器。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510003276.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。