[发明专利]光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置

权利要求书

1.光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，其特征在于：包括底座、立板、一套内涨力校验芯轴结构和两套外收缩校验调整结构，所述立板竖立固定于底座上，立板上开有一安装孔和两导向孔，所述内涨力校验芯轴结构包含内涨力芯轴和可调锥度螺丝，内涨力芯轴的一端置于立板的安装孔中，另一端是具有涨力切口的圆筒，可调锥度螺丝沿轴向穿过圆筒旋入内涨力芯轴的内螺纹孔中，所述外收缩校验调整结构包含活动塑料隔套和微调螺母，立板的每一导向孔中套装一活动塑料隔套，与导向孔相对位置的立板上沿径向设有螺纹孔，微调螺母旋入螺纹孔中与活动塑料隔套的外缘面相抵接。

2.根据权利要求1所述的光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，其特征在于：所述内涨力芯轴的一端与立板的安装孔为间隙配合，与安装孔相对位置的立板上沿径向设有螺钉孔，紧固螺钉旋入螺钉孔中与内涨力芯轴的外缘面相抵接。

3.根据权利要求1所述的光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，其特征在于：所述活动塑料隔套中配合一可旋动的塑圈。

4.根据权利要求1所述的光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，其特征在于：所述两导向孔的孔径不同，相对应地，配装不同直径的活动塑料隔套。