[发明专利]间接转换检测器阵列

权利要求书

1.一种检测器阵列，包括：

闪烁体，所述闪烁体被配置成响应于检测事件生成发光光子；以及

多个光电检测器，所述多个光电检测器位于接近所述闪烁体的下侧并且被配置成对所述发光光子中的至少一些发光光子进行检测，所述闪烁体大体上连续地分布在所述多个光电检测器中的至少两个光电检测器上。

2.根据权利要求1所述的检测器阵列，所述至少两个光电检测器中的第一光电检测器与所述至少两个光电检测器中的第二光电检测器以一间隙隔开，并且，其中，所述闪烁体大体上连续地分布在所述第一光电检测器、所述间隙以及所述第二光电检测器上。

3.根据权利要求1所述的检测器阵列，其中，所述闪烁体的在所述至少两个光电检测器中的第一光电检测器上的第一部分与所述闪烁体的在所述至少两个光电检测器中的第二光检测器上的第二部分之间没有反射材料。

4.根据权利要求1所述的检测器阵列，所述闪烁体包括硫氧化钆(GOS)陶瓷材料。

5.根据权利要求1所述的检测器阵列，所述闪烁体被粘合至所述至少两个光电检测器。

6.根据权利要求1所述的检测器阵列，所述闪烁体大体上连续地分布在至少三个光电检测器上，其中，

所述至少三个光电检测器中的第一光电检测器和所述至少三个光电检测器中的第二光电检测器形成一行光电检测器，以及

所述第一光电检测器和所述至少三个光电检测器中的第三光电检测器形成一列光电检测器。

7.一种检测器阵列，包括：

闪烁体，所述闪烁体被配置成响应于检测事件生成发光光子；以及

多个光电检测器，所述多个光电检测器位于接近所述闪烁体的下侧并且被配置成对所述发光光子中的至少一些发光光子进行检测，所述多个光电检测器中的至少两个光电检测器共用所述闪烁体。

8.根据权利要求7所述的检测器阵列，所述闪烁体被粘合至所述至少两个光电检测器。

9.根据权利要求7所述的检测器阵列，所述闪烁体被至少三个光电检测器共用，其中，

所述至少三个光电检测器中的第一光电检测器和所述至少三个光电检测器中的第二光电检测器形成一行光电检测器，以及

所述第一光电检测器和所述至少三个光电检测器中的第三光电检测器形成一列光电检测器。

10.根据权利要求7所述的检测器阵列，所述闪烁体包括光学半透明材料。

11.根据权利要求7所述的检测器阵列，所述闪烁体包括硫氧化钆(GOS)陶瓷材料。

12.根据权利要求7所述的检测器阵列，所述闪烁体包括陶瓷材料。

13.根据权利要求7所述的检测器阵列，所述闪烁体包括大体上均匀的成分。

14.根据权利要求7所述的检测器阵列，所述闪烁体在所述至少两个光电检测器之间不存在一条或多条切线。

15.根据权利要求7所述的检测器阵列，包括数据采集部件，所述数据采集部件被配置成响应于检测到所述发光光子中的至少一些发光光子来对由所述多个光电检测器所生成的电荷进行测量。

16.根据权利要求7所述的检测器阵列，其中，所述闪烁体的在所述至少两个光电检测器中的第一光电检测器上的第一部分与所述闪烁体的在所述至少两个光电检测器中的第二光检测器上的第二部分之间没有反射材料。

17.一种辐射成像系统，包括：

辐射源，所述辐射源被配置成发射辐射光子；以及

检测器阵列，所述检测器阵列包括多个检测器元件，

所述多个检测器元件中的第一检测器元件包括：

共用闪烁体的第一部分；以及

位于接近所述第一部分的下侧的第一光电检测器，以及

所述多个检测器元件中的第二检测器元件包括：

所述共用闪烁体的第二部分；以及

位于接近所述第二部分的下侧的第二光电检测器。

18.根据权利要求17所述的辐射成像系统，其中，所述第一光电检测器与所述第二光电检测器之间限定有间隙，所述间隙位于接近所述共用闪烁体的第三部分的下侧。