[发明专利]基于来自光子计数多仓X射线检测器图像数据X射线成像有效
| 申请号: | 201480083319.3 | 申请日: | 2014-11-10 | 
| 公开(公告)号: | CN107004281B | 公开(公告)日: | 2021-02-05 | 
| 发明(设计)人: | 马特斯·佩尔松;汉斯·波拿佛克;刘学进;本·休伯;陈汉 | 申请(专利权)人: | 棱镜传感器公司 | 
| 主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00;A61B6/00;G01N23/046 | 
| 代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 刘宇峰 | 
| 地址: | 瑞典斯*** | 国省代码: | 暂无信息 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 来自 光子 计数 射线 检测器 图像 数据 成像 | ||
本发明提供了一种用于基于来自光子计数的多仓X‑射线检测器的图像数据的图像重建方法以及相应的系统与装置。该方法包括:确定(S1)给出的函数形式的参数,所述函数形式表示在X‑射线检测器的读出链中以电压表示的比较器设置与基于拟合过程的以能量表示的相应的能量阈值之间的关系,所述拟合过程是在测量的脉冲高度谱的第一组数据代表与参考脉冲高度谱的第二组数据代表之间的拟合过程。该方法还包括:基于该图像数据与所确定的参数执行图像重建。通过这种方式,可以实现高效的高质量图像重建。
技术领域
本发明所提议的技术总体上涉及X-射线成像和相关成像重建和成像任务。特别地,所提议的技术设计一种基于来自光子计数的多仓X-射线检测器的图像数据的X-射线成像,以及相关的图像重建系统和用于图像重建的装置,以及相应的计算机程序和计算机程序产品,以及用于支持基于光子计数的X-射线检测器的图像数据的图像重建的装置。
背景技术
诸如X-射线成像的放射摄影成像已经在医疗应用和非破坏性检测中使用多年。
通常,X-射线成像系统包括X-射线光源和包括多个检测器单元的X-射线检测器。X-射线光源发出X-射线,它们穿透将被成像的对象或物体,然后它们被检测器记录。
在直接转换的能量灵敏的多仓检测器的电子读出链中,相互作用的X-射线量子产生了一个电压脉冲,它的高度与入射的X-射线量子在传感器中所沉积的能量成正比。这个高度是在大量比较器中与可调电压设置进行比较的。这些比较器设置通常表示阈值,相邻阈值之间的电压间隔定义了一个所谓的仓(bin)。当X-射线沉积导致电压脉冲落入某个特定仓时,相应的计数器被增加,这是为何能量信息是在光子计数的多仓检测器中被提取的原因。
然而,基于光子计数多仓检测器的X-射线成像系统仍然仍然在重建的图像中受到人工假像的影响,并且使光谱数据的材料基础分解变得困难。
因此,有普遍的需求来改善诸如X-射线成像的放射摄影成像。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种图像重建的改进方法。
本发明的另一个目的是提供一种改进的图像重建系统。
本发明的另一个目的是提供一种用于图像重建的装置。
本发明的还一个目的是提供一种用于与光子计数的多仓X-射线检测器一起使用的计算机程序。
本发明的还一个目的是提供一种相应的计算机程序产品。
本发明的还一个目的是提供一种用于支持基于来自光子计数的X-射线检测器的图像数据的图像重建的装置。
这些和其他目标是通过所提议的技术的具体实施方式来实现的。
根据第一个方面,这里提供了一种基于来自光子计数的多仓X-射线检测器(20)的图像数据的图像重建方法。所述方法包括:
——确定给出的函数形式的参数,所述函数形式表示在X-射线检测器的读出链中以电压表示的比较器设置与基于拟合过程的以能量表示的相应的能量阈值之间的关系,所述拟合过程是在测量的脉冲高度谱的第一组数据代表与参考脉冲高度谱的第二组数据代表之间的拟合过程;
——基于所述图像数据与所确定的参数执行图像重建。
根据第二个方面,这里提供了一种图像重建系统,它被配置为执行上述的方法。
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