[发明专利]用于定位颗粒的探测方法和用于执行这种方法的设备

权利要求书

1.用于定位至少一个在流中的流动通道（10）中平行于主流动方向（3）移动的颗粒（1）的探测方法，其具有如下步骤：

－ 通过发送器（5）发出发送信号；

－ 通过接收器接收被反射的、与发送信号相比经过频率和相位调制的接收信号（4）；

其特征在于：紧接着，

－ 将接收信号（4）与至少一个表示流动通道（10）的共轭的、被估计的通道脉冲响应的核（7）卷积成被重建的颗粒位置函数，并且

－ 根据所述被重建的颗粒位置函数确定颗粒（1）的位置（x₀、x₁、x₂）。

2.根据权利要求1所述的探测方法，

其特征在于，

－ 多次与核族的每一个不同的核（7）的卷积被执行，其中所述族的核（7）对应于每一个不同的所期望的颗粒位置函数，并且

－ 出于被重建的颗粒位置函数的所获得的族来进行对所述位置（x₀、x₁、x₂）的确定。

3.根据权利要求2所述的探测方法，

其特征在于，

所述核（7）分别被关联给分别描述了颗粒（1）的位置（x₀、x₁、x₂）的颗粒位置函数，所述颗粒（1）的位置（x₀、x₁、x₂）沿着所述主流动方向（3）分布。

4.根据权利要求2或3所述的探测方法，

其特征在于，

所述位置（x₀、x₁、x₂）的确定包含被重建的颗粒位置函数的叠加。

5.根据权利要求4所述的探测方法，

其特征在于，

所述位置（x₀、x₁、x₂）的确定包含将被重建的颗粒位置函数叠加成位置坐标中的二维或者三维的图像。

6.根据权利要求1至3之一所述的探测方法，

其特征在于，

所述探测方法被应用到颗粒流上，并且在确定所述颗粒流的颗粒（1）的位置（x₀、x₁、x₂）之后进行对所述颗粒（1）的这些由于被假定的、预先被确定的统计学上相关的分布而属于同一整体的位置（x₀、x₁、x₂）的提取，而且所述位置（x₀、x₁、x₂）被映射到概率函数（12）上。

7.根据权利要求6所述的探测方法，

其特征在于，

依据所述概率函数（12）进行确定是否在颗粒流之内存在颗粒（1）的不均匀的分布，并且如果是这种情况，则依据概率函数（12）的至少一个最大值来进行对非均匀性的定位。

8.根据权利要求6所述的探测方法，

其特征在于，

依据所述概率函数（12）进行确定是否在颗粒流之内存在颗粒（1）的不均匀的分布，并且如果是这种情况，则依据概率函数（12）的绝对的最大值来进行对非均匀性的定位。

9.根据权利要求1至3之一所述的探测方法，

其特征在于，

接收信号（4）和/或核（7）每次都以复值的形式被选择。

10.根据权利要求1至3之一所述的探测方法，

其特征在于，

进行接收信号（4）和/或核（7）的每一次频谱上的变细。

11.根据权利要求10所述的探测方法，

其特征在于，

在所述变细之后进行接收信号（4）和/或核（7）的高通滤波。

12.用于定位至少一个在流中的流动通道（10）中平行于主流动方向（3）移动的颗粒（1）的探测设备，其具有用于发出发送信号并且用于检测接收信号（4）的传感器，而且所述探测设备具有分析单元，

其特征在于，

借助于所述分析单元，所述接收信号（4）的频率和相位能被检测，所述接收信号（4）能与至少一个表示流动通道（10）的共轭的、被估计的通道脉冲响应的核（7）被卷积成被重建的颗粒位置函数，而且颗粒的位置（x₀、x₁、x₂）能根据所述被重建的颗粒位置函数而被确定。