[发明专利]具有减少的基板颗粒产生的基板支撑设备在审
| 申请号: | 201480062960.9 | 申请日: | 2014-12-08 |
| 公开(公告)号: | CN105723504A | 公开(公告)日: | 2016-06-29 |
| 发明(设计)人: | 默尼卡·阿咖瓦;徐松文;格伦·莫里;史蒂芬·V·桑索尼 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
| 主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;赵静 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 减少 颗粒 产生 支撑 设备 | ||
1.一种用于支撑基板的设备,包括:
支撑表面;和
多个基板接触元件,所述多个基板接触元件从所述支撑表面突出,其中所述多个基板接触元件由一材料形成,所述材料具有小于或等于硅的硬度的硬度,具有低附着性,具有大到足以防止滑动的静磨擦系数,具有小于或等于10Ra的表面粗糙度,且为导电性的。
2.如权利要求1所述的设备,其中所述支撑表面为基板支撑件的一部分,且所述多个接触元件从所述基板支撑件突出。
3.如权利要求1所述的设备,其中所述支撑表面为基板支撑件的一部分,且所述多个接触元件包括设置于所述基板支撑件中的多个升降销。
4.如权利要求3所述的设备,其中所述多个升降销的每一者的上部由所述材料形成。
5.如权利要求3所述的设备,其中所述多个升降销的每一者整体地由所述材料形成。
6.如权利要求1所述的设备,其中所述支撑表面为基板传送机械手的一部分,且所述多个接触元件包括设置于所述基板传送机械手的末端效应器上的接触垫。
7.如权利要求1至6中任一项所述的设备,其中所述材料为导电塑料。
8.如权利要求1至6中任一项所述的设备,其中所述材料包括氧化铝、氮化硅或不锈钢之一或更多者。
9.一种基板处理系统,包括:
基板支撑件,所述基板支撑件设置于处理腔室中,所述基板支撑件具有基板支撑表面和多个升降销,所述多个升降销被布置成在相对于所述基板支撑件被升高时支撑所述基板支撑表面上方的基板;和
基板传送机械手,所述基板传送机械手包括支撑表面和多个接触元件,所述多个接触元件被布置成在被设置于所述基板传送机械手上时支撑所述基板;
其中所述基板支撑表面、所述多个接触元件、或所述多个升降销中的至少一者由一材料形成,所述材料具有小于或等于硅的硬度的硬度,具有低附着性,具有大到足以防止滑动的静磨擦系数,具有小于或等于10Ra的表面粗糙度,且为导电性的。
10.如权利要求9所述的基板处理系统,其中所述多个升降销的每一者的上部由所述材料形成。
11.如权利要求9所述的基板处理系统,其中所述多个升降销的每一者整体地由所述材料形成。
12.如权利要求9所述的基板处理系统,其中所述基板支撑件进一步包括多个突起状接触元件,所述多个突起状接触元件从所述基板支撑件延伸以支撑所述基板。
13.如权利要求9至12中任一项所述的基板处理系统,其中所述材料包括导电塑料。
14.如权利要求9至12中任一项所述的基板处理系统,其中所述材料包括氧化铝、氮化硅或不锈钢之一或更多者。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料公司,未经应用材料公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480062960.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





