[发明专利]用于确定管道内的材料层的放射性成分的系统和方法

权利要求书

1.一种用于确定管道内的材料层的放射成分的系统，所述系统包括：

准直器探头，其包括容纳在准直器内的探头；

可操作地连接到所述探头的光谱仪；

假想装置，包括包含反应堆水测试标准的容器、多个可移除板、可移除核隔离层和准直器探头附连点；和

以可移除板的各种几何获取的光谱仪读数的半对数曲线图。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述探头是碲化镉锌探头。

3.根据权利要求1所述的系统，其中，所述准直器包括由围绕探头的高密度材料制成的大致圆筒形的屏蔽件。

4.根据权利要求3所述的系统，还包括附连到所述准直器的开口中的格栅。

5.根据权利要求4所述的系统，其中，所述格栅包括排列以创建多个开口的铅板矩阵。

6.根据权利要求3所述的系统，其中，所述大致圆筒形的屏蔽件包括第一半部和第二半部。

7.根据权利要求3所述的系统，其中，所述高密度材料从由铅、钨、贫化铀组成的组中选择。

8.根据权利要求1所述的系统，其中，还包括具有处理器、内存和计算机可读介质的计算机，该计算机配置为将储存在计算机可读介质上的光谱仪读数的半对数曲线图与储存在计算机可读介质上的光谱仪现场读数进行比较。

9.根据权利要求1所述的系统，其中，所述准直器由高密度材料制成并且覆盖有铜层。

10.根据权利要求9所述的系统，还包括在所述高密度材料与铜层之间的镉层。

11.根据权利要求10所述的系统，其中，所述镉层放置在所述高密度材料与所述准直器的内表面上的铜层之间。

12.如权利要求1所述的系统，其中准直器探头包括：

包含高密度材料的大致圆筒形的用于容纳探头的屏蔽件；

该探头具有感测面并且放置在所述大致圆筒形的屏蔽件内；

在所述大致圆筒形的屏蔽件的面内的开口，其容纳防止低能侧向光子撞击所述探头的感测面的格栅；以及

包含高密度材料的可移除盖，其可移除地附接到所述大致圆筒形的屏蔽件，以允许将所述探头放置在所述大致圆筒形的屏蔽件内。

13.根据权利要求12所述的系统，其中准直器探头还包括装配到屏蔽壳体以保持容纳在所述屏蔽壳体内的探头距开口的距离恒定的间隔件。

14.根据权利要求12所述的系统，其中准直器探头还包括放置在所述探头与所述大致圆筒形的屏蔽件的内壁之间的探头保持器。

15.如权利要求1所述的系统，其中准直器探头包括：

大致圆筒形的屏蔽件，其包括由高密度材料制成的第一半部和由高密度材料制成的第二半部，其中，所述第一半部具有与所述第二半部的通道配合的突起；

探头具有感测面并且放置在所述大致圆筒形的屏蔽件内；以及

在所述大致圆筒形的屏蔽件的面内的开口，其容纳防止低能侧向光子撞击所述探头的感测面的格栅。

16.根据权利要求15所述的系统，其中准直器探头还包括装配到所述屏蔽壳体以保持容纳在所述屏蔽壳体内的探头距开口的距离恒定的间隔件。

17.一种利用一系统确定管道内的腐蚀层的放射成分的方法，该系统包括：准直器探头，其包括容纳在准直器内的探头；可操作地连接到所述探头的光谱仪；假想装置，包括包含反应堆水测试标准的容器、多个可移除板、可移除核隔离层和准直器探头附连点；和以可移除板的各种几何获取的光谱仪读数的半对数曲线图，

所述方法包括以下步骤：

提供被测试管道的壁厚；

获取用所述准直器探头测试的管道的读数；

将被测试管道的读数与所述半对数曲线图进行比较；以及

提供沉积层值。

18.根据权利要求17所述的方法，还包括确定腐蚀层的损害的步骤。

19.根据权利要求18所述的方法，还包括确定损害来源的步骤。