[发明专利]自动分析装置有效

专利信息
申请号: 201480056175.2 申请日: 2014-10-21
公开(公告)号: CN105637369B 公开(公告)日: 2017-07-28
发明(设计)人: 森岛大辅;前田耕史 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N35/10
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司11243 代理人: 范胜杰,曹鑫
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 自动 分析 装置
【权利要求书】:

1.一种自动分析装置,使用混合多种试剂而得的混合试剂来分析检体,其特征在于,

所述自动分析装置具备:

混合试剂制作单元,其在每个混合试剂制作周期中将所述混合试剂集中地制作分析次数的量;以及

控制部,其对所述集中制作的混合试剂确定最大值和最小值,在委托了所述集中制作的混合试剂的最大值和最小值的范围外的分析次数的情况下,将所述每个混合试剂制作周期中的所述集中制作的混合试剂确定为最大值和最小值的范围内的值,使得在检体分析结束后的混合试剂的残余量最小,

所述混合试剂制作单元,在每个混合试剂制作周期中集中地制作N次分析的量的所述混合试剂,

所述控制部,预先确定所述N的值的最小值Nmin和最大值Nmax,在将一次分析的量的检体设为1个而对J个检体进行了分析委托的情况下,在从Nmin到Nmax的范围内确定每个所述混合试剂制作周期的所述N的值,将每个所述混合试剂制作周期中的所述N的值确定为Nmax≥N≥Nmin中的某值,使得在结束了所述J个检体的分析之后,所述混合试剂的残余量最小,

所述自动分析装置还具备反应液制作单元,其向各反应容器内分注1个检体和所述N次分析的量的混合试剂中的1次分析的量的混合试剂,

所述控制部执行所述混合试剂制作周期,所述混合试剂制作周期通过如下处理而确定:

使用J÷Nmax=Q×Nmax+R来计算整商Q和余数R的第一处理;

在Q≥1且0<R<Nmin的第一条件的情况下,在成为所述混合试剂制作周期中的某一次的第一周期中将所述N的值确定为Nmin,在成为另外某一次的第二周期中将所述N的值确定为Nmax+R-Nmin的第二处理。

2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,

所述控制部将所述混合试剂制作周期确定为Q+1次。

3.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,

所述控制部在所述第二处理的所述第一条件中Q≥2的情况下,在所述Q+1次的所述混合试剂制作周期中除去所述第一周期和第二周期的周期中,将所述N的值确定为Nmax。

4.根据权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,

所述控制部在所述第二处理中进一步进行以下处理:

在Q=0且R<Nmin的第二条件的情况下,将所述N的值确定为Nmin,

在Q=0且R≥Nmin的第三条件的情况下,将所述N的值确定为R,

在Q≥1且R≥Nmin、或者Q≥1且R=0的第四条件的情况下,在成为Q+1次的所述混合试剂制作周期中的某一次的第三周期中将所述N的值确定为R,在除去所述第三周期的周期中将所述N的值确定为Nmax。

5.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,

所述控制部在所述第一条件的情况下代替所述第二处理而进行以下处理:

在(Q+1)×Nmin≥J的第五条件的情况下,在全部的所述混合试剂制作周期中,将所述N的值确定为Nmin,

在(Q+1)×Nmin<J的第六条件的情况下,在所述混合试剂制作周期的重复数第i次的周期中,

在(i×Nmax)+(Q-i+1)×Nmin≤J的第七条件的情况下,在Q+1次的所述混合试剂制作周期中的某一周期中,将所述N的值确定为Nmax,

在(i×Nmax)+(Q-i+1)×Nmin>J的第八条件的情况下,在成为从Q+1次中除去第七条件的所述混合试剂制作周期中的某一次的周期中,将所述N的值确定为J-(i-1)×Nmax-(Q-i+1)×Nmin,

在除去所述第八条件的周期中,将所述N的值确定为Nmin。

6.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,

所述控制部对K进行监视,该K表示以多个试剂中的某个试剂为对象而残存的分析的残余次数的量,在对所述J个检体进行了分析委托的情况下计算K-J,在K-J≥Nmin的情况下,执行所述第一处理和第二处理,在K-J<Nmin的情况下,代替所述第一处理,使用K÷Nmax=Q×Nmax+R来计算整商Q和余数R,并执行使用该Q和该R通过所述第二处理而确定的所述混合试剂制作周期。

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