[发明专利]用于分析多相流体的系统和方法在审

专利信息
申请号: 201480052792.5 申请日: 2014-07-25
公开(公告)号: CN105556304A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: S.麦蒂;S.K.马哈利克;V.蒂拉克;G.H.梅森;N.G.哈里斯;S.J.伊顿 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01N33/28 分类号: G01N33/28;G01N21/43;G01N21/85
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 叶晓勇;张懿
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 分析 多相 流体 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种装置,包括:

电磁引导装置,用于提供电磁辐射;

反射器,反射所述电磁辐射的一部分,以生成所述电磁辐射的反射部分,其中所述反射 器完全浸入多相流体中;以及

处理子系统,基于所述电磁辐射的所述反射部分的至少一部分来分析所述多相流体,

其中所述电磁引导装置的主光轴与所述反射器的主光轴基本上对齐。

2.如权利要求1所述的装置,其中,所述电磁引导装置的一端与所述反射器的底直接物 理接触。

3.如权利要求1所述的装置,其中,所述电磁引导装置的一部分由一个或多个管子来覆 盖,以及所述电磁引导装置没有与所述多相流体直接物理接触。

4.如权利要求1所述的装置,还包括生成所述电磁辐射的波源,其中所述波源是相干源 或者非相干源。

5.如权利要求4所述的装置,其中,所述电磁引导装置包括耦合到主耦合装置的第一电 磁引导装置和第二电磁引导装置,其中所述第一电磁引导装置的一端与所述反射器直接物 理接触,以及所述第二电磁引导装置的一端耦合到所述波源。

6.如权利要求5所述的装置,其中,所述主耦合装置:

通过所述第二电磁引导装置从所述波源接收所述电磁辐射;

将所述电磁辐射分为第一电磁辐射部分和第二电磁辐射部分;

通过所述第一电磁引导装置来定向所述第一电磁辐射部分,以照射浸入所述多相流体 中的所述反射器;以及

通过第三电磁引导装置将所述第二电磁辐射部分定向到至少一个检测器。

7.如权利要求6所述的装置,其中,所述反射器反射所述第一电磁辐射部分的至少一部 分,以生成所述第一电磁辐射部分的反射部分。

8.如权利要求7所述的装置,其中,所述第一电磁辐射部分的所述反射部分包括所述第 一电磁辐射部分的0%一直到所述第一电磁辐射部分的大约80%的范围。

9.如权利要求5所述的装置,其中,所述主耦合装置包括耦合器和循环器中的至少一 个。

10.如权利要求7所述的装置,其中,所述主耦合装置:

将所述第一电磁辐射部分的所述反射部分分为第一分割反射部分和第二分割反射部 分;以及

将所述第一分割反射部分朝检测器定向到。

11.如权利要求10所述的装置,其中,所述处理子系统还基于所述第一分割反射部分和 所述第二电磁辐射部分来确定所述多相流体中感兴趣流体的浓度、天然气-液相分数或者 其组合。

12.如权利要求10所述的装置,还包括耦合到所述第三电磁引导装置的一端的所述检 测器,其中所述检测器:

将所述第一分割反射部分转换成反射电信号,所述反射电信号表示所述第一分割反射 部分的强度;

将所述第二电磁辐射部分转换成参考电信号,所述反射电信号表示所述第二电磁辐射 部分的强度;以及

向所述处理子系统传送所述反射电信号和所述参考电信号。

13.如权利要求12所述的装置,其中,所述处理子系统基于所述反射电信号和所述参考 电信号来分析所述多相流体。

14.如权利要求11所述的装置,其中,所述反射器的折射率与所述感兴趣流体的折射率 相比更大、更低或者是相同的。

15.如权利要求1所述的装置,其中,所述多相流体包括气、水、石油、天然气或其他碳氢 化合物或者其组合。

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