[发明专利]用于光谱仪系统的通流设备和用于运行该通流设备的方法在审

专利信息
申请号: 201480051851.7 申请日: 2014-09-24
公开(公告)号: CN105556281A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: G.埃贝尔斯伯格;A.J.帕斯图夏克;R.帕斯图夏克;K.威斯纳 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01N21/05 分类号: G01N21/05
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 侯宇
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 光谱仪 系统 通流 设备 运行 方法
【权利要求书】:

1.一种用于光谱仪系统的通流设备(1),其具有与光谱仪(4)光学耦 连的第一光学元件(2)和与光源光学耦连(5)的第二光学元件(3),所述第 一光学元件和所述第二光学元件在由流体(8)通流的测量间隙(6)的区域中相 互间隔地布置,在该测量间隙的区域中从第二光学元件(3)发出的并且到达第 一光学元件(2)的光束(7)至少部分地被吸收,其特征在于,通过改变两个 光学元件(2,3)的间距(10)能够影响通过测量间隙(6)的流体(8)的流 量。

2.按照权利要求1所述的通流设备(1),其特征在于,为了在运行状 态中调整两个光学元件(2,3)的间距(10),两个光学元件(2,3)的间距(10) 是可控的。

3.按照权利要求2所述的通流设备(1),其特征在于,两个光学元件 (2,3)的间距(10)能够借助测微螺杆控制或者液压地控制。

4.按照权利要求2或3所述的通流设备(1),其特征在于,设有控制 装置,借助该控制装置根据光线强度能够自动地增大或减小两个光学元件 (2,3)的间距(10),所述光线强度能够由与第一光学元件(2)光学耦连的 测量装置测量。

5.按照前述权利要求之一所述的通流设备(1),其特征在于,通流设 备(1)的一部分是旁路系统,借助该旁路系统能够将作为参照流体的其他 流体引入测量间隙(6)。

6.按照权利要求5所述的通流设备(1),其特征在于,所述旁路系统 设置用于在运行过程中首先自动地向测量间隙(6)中引入清洁流体,并且 然后将参照流体引入测量间隙(6)中。

7.按照前述权利要求之一所述的通流设备(1),其特征在于,通流设 备(1)基本上设计成管形的。

8.按照前述权利要求之一所述的通流设备(1),其特征在于,在通流 设备(1)的内侧壁区域(12)与配属的光学元件(2,3)之间设置至少一个 可延展的薄膜(11)。

9.一种用于运行用于光谱仪系统的通流设备(1)的方法,其中,通流 设备(1)具有与光谱仪(4)光学耦连的第一光学元件(2)和与光源光学 耦连(5)的第二光学元件(3),所述第一光学元件和所述第二光学元件在可 由流体(8)通流的测量间隙(6)的区域中相互间隔地布置,其中,在该测量间 隙的区域中从第二光学元件(3)发出的并且到达第一光学元件(2)的光束(7) 至少部分地被吸收,其特征在于,通过改变两个光学元件(2,3)的间距(10) 能够影响通过测量间隙(6)的流体(8)的流量。

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