[发明专利]测量切割宝石的参数

说明书

技术领域

本发明涉及但是不受限于用于测量切割宝石的参数的方法和设备。方法和设备可 以测量切割宝石的参数以用于对切割宝石分类。

背景技术

为保持钻石产品被合适地公开的消费者信任度，重要的是，钻石工业具有实际方 法以用于测试切割宝石以确定其是否是自然钻石、人造钻石或模拟品。类似地，重要的是， 钻石工业具有方法以确定钻石是否已经被人工地处理，例如以改变其颜色。

存在一种设备，所述设备能够从模拟品中区分钻石、宝石，并且用于测量钻石参数 以表示钻石是否可能为自然的或人造的，或是否钻石已经被处理例如以改善其颜色。通常 地，该设备进行测量，然后根据测量结果将钻石放置在相应的箱中。然而，该设备经常是不 可靠的并且其它测试和/或测量经常需要证实宝石是否是钻石并且，如果是，则宝石是否是 自然的或人造的和/或是否已经被处理。

另外地，在钻石工业中，宝石的其它物理参数的确定，诸如颜色、尺寸和切割度，是 重要的过程。

发明内容

在第一方面，根据本发明，提供一种设备，用于在切割宝石定位在单个测量位置处 时测量切割宝石的多个参数，所述设备包括：多个光源，所述多个光源中的每个都被构造成 用于发射处于多个发射波长或波长范围中不同的发射波长或波长范围的光，使得发出的光 至少照射测量位置的部分；和传感器组件，所述传感器组件被构造成用于感测处于多个感 测波长或波长范围的光，以用于测量多个参数，由于对定位在测量位置处的切割宝石的照 射，来自测量位置的被感测的光在传感器组件处被接收。

可选地，设备进一步包括支撑组件，以用于将切割宝石保持在测量位置处以便于 光透射到切割宝石的切面内和切面外。

可选地，多个光源包括宽带光源，所述宽带光源被构造成发射用于测量切割宝石 的吸收的光。

可选地，宽带光源被构造成发射具有在从约300nm到约520nm的范围内的波长的 光。

可选地，多个光源包括一个或多个激光源。

可选地，一个或多个激光源包括被构造成发射具有下述波长的光的激光源，所述 波长适合于从切割宝石激励具有可检测波长的拉曼发射光谱。

可选地，激光源被构造成用于发射约660nm的光。

可选地，一个或多个激光源包括被构造成用于发射具有适合于在切割宝石中激励 光致发光的波长的光的至少一个激光源。

可选地，被构造成发射具有用于在切割宝石中激励光致发光的波长的光的至少一 个激光源包括被构造成发射大致具有约325nm、约375nm、约458nm、约514nm、约785nm和约 830nm中的一个波长的光的至少一个激光源。

可选地，多个光源包括UV光源。

可选地，传感器组件包括光谱仪，所述光谱仪包括波长限制装置，所述波长限制装 置被构造成用于防止检测到在某个波长范围中的光。

可选地，光谱仪包括电荷耦合装置，并且其中波长限制装置包括在光进入光谱仪 的路径上定位在电荷耦合装置之前的掩模。

可选地，光谱仪进一步包括在光进入光谱仪中的路径上定位在掩模之前的衍射光 栅。

可选地，波长范围从350nm到400nm。

可选地，设备进一步包括被构造成用于发射用于测量切割宝石的吸收的光的宽带 光源，其中UV光源被构造成发射用于测量切割宝石的荧光的光，并且其中光谱仪被构造成 用于测量在从400nm到508nm的波长范围中的荧光并且测量在从300nm到350nm和从400nm到 508nm的两个范围中的吸收。

可选地，设备被构造成用于同时地测量切割宝石的荧光和吸收。

可选地，传感器组件包括多个传感器，每个传感器都被构造成用于感测处于多个 感测波长或波长范围中不同的一个或多个感测波长或波长范围的光。

可选地，多个传感器包括光谱仪，所述光谱仪被构造成用于感测处于用于测量切 割宝石的吸收的波长范围的光。

可选地，光谱仪被构造成用于感测处于从约300nm到约520nm的波长范围的光。

可选地，多个传感器包括光谱仪，所述光谱仪被构造成用于感测处于用于测量切 割宝石的拉曼发射光谱的波长范围的光。

可选地，光谱仪被构造成用于感测处于从700nm到800nm的波长范围的光。