[发明专利]测量方法

权利要求书

1.一种利用坐标定位设备来测量物体的方法，所述坐标定位设备包括能够以扫描模式和接触触发模式两种模式操作的双重模式探头，所述双重模式探头包括接触物体的触针和用于测量触针偏转的量值的传感器，所述方法包括以下按任何合适的顺序的步骤：

a)以接触触发模式操作所述坐标定位设备，以测量所述物体的表面上的一个或多个接触触发测量点的位置，利用所述双重模式探头的所述接触物体的触针和所述传感器来获得所述接触触发测量点；

b)以扫描模式操作所述坐标定位设备，以测量沿着所述物体的表面上的扫描路径的多个扫描测量点的位置，利用所述双重模式探头的所述传感器和所述接触物体的触针来获得所述扫描模式的测量；以及

c)计算至少一个校正，其描述步骤(a)的所述接触触发模式的测量与步骤(b)的所述扫描模式的测量之差。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(b)的所述扫描路径被布置成名义上穿过所述一个或多个接触触发测量点。

3.根据权利要求1所述的方法，所述方法包括利用步骤(c)的所述至少一个校正来校正步骤(b)的测量的附加步骤。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，在步骤(a)和(b)中被测量的所述物体是一系列名义上相同的物体中的第一物体，所述方法包括以下步骤：以扫描模式操作所述坐标定位设备以测量所述一系列物体中的一个或多个另外物体；以及将在步骤(c)中计算出的所述至少一个校正应用于所述一个或多个另外物体中的每个物体的测量。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个校正包括误差映射或函数，所述误差映射或函数限定在步骤(b)中获得的所述扫描测量点和在步骤(a)中获得的对应的接触触发测量点的位置之差。

6.根据权利要求1所述的方法，其中：

步骤(a)包括利用所述一个或多个接触触发测量点来确定所述物体在所述坐标定位设备的坐标系中的位置和取向中的至少一个；

步骤(b)包括利用所述扫描测量点来确定所述物体在所述坐标定位设备的坐标系中的位置和取向中的至少一个；以及

步骤(c)包括计算至少一个校正，其描述如在步骤(a)中确定的位置和取向中的至少一个与如在步骤(b)中确定的位置和取向中的至少一个之差。

7.根据权利要求1所述的方法，其中：

步骤(a)包括利用所述一个或多个接触触发测量点来确定与所述物体的一个或多个特点相关联的至少第一参考几何特性；

步骤(b)包括利用所述扫描测量点来确定与所述物体的所述一个或多个特点相关联的至少第一扫描几何特性，所述第一扫描几何特性与所述第一参考几何特性相对应；以及

步骤(c)包括计算至少一个校正，其限定所述第一参考几何特性与所述第一扫描几何特性之差。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述传感器被配置用于测量触针偏转的方向。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，所述双重模式探头产生接触触发模式输出和分开的扫描模式输出。

10.根据前述任一权利要求所述的方法，其中，所述双重模式探头包括多方向单输出扫描探头。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，所述多方向单输出扫描探头还包括探头壳体，所述探头壳体具有偏转传感器，所述触针可相对于所述探头壳体偏转，且所述偏转传感器产生仅表示从静止位置的触针偏转的量值的单个输出值。

12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述多方向单输出扫描探头包括触针，其可以相对于所述探头壳体沿至少两个相互垂直的方向偏转。