[发明专利]使用基本上单调非增且具有正的二阶导数的热梯度的气相色谱有效

专利信息
申请号: 201480049159.0 申请日: 2014-09-16
公开(公告)号: CN105555390B 公开(公告)日: 2019-02-05
发明(设计)人: H·D·托利;A·王;S·E·托利;M·L·李;A·R·霍金斯 申请(专利权)人: 布莱阿姆青年大学
主分类号: B01D53/02 分类号: B01D53/02;G01F1/68;G01N30/30
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 张全信;尚晓芹
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 使用 基本上 单调 具有 导数 梯度 色谱
【权利要求书】:

1.用于进行气相色谱的方法,所述方法包括:

提供注射器、柱和检测器,所述柱具有用于从所述注射器接收化合物的样品的前端,和用于将所述样品洗脱入所述检测器的后端;

提供第一加热装置,其用于向所述柱施加初级热以沿着所述柱的部分产生单调递减且连续的热梯度;

提供第二加热装置,其用于向所述柱的全长施加次级热以从而升高所述柱的所述热梯度且叠复所述第一加热装置;并且

其中所述热梯度是基本上非线性的,并且其中所述热梯度具有基本上非负的二阶导数。

2.如在权利要求1中限定的所述方法,其中施加所述次级热以从而均匀地升高所述柱的所述热梯度的所述方法进一步包括控制所述热梯度的轮廓。

3.如在权利要求2中限定的所述方法,其中控制所述热梯度的所述轮廓的所述方法进一步包括引起所述热梯度维持期望的轮廓,同时将所述热梯度平移至更高的温度。

4.如在权利要求2中限定的所述方法,其中所述方法进一步包括修改所述次级热将所述热梯度平移至更高的温度的速率。

5.如在权利要求1中限定的所述方法,其中产生所述热梯度的所述方法进一步包括产生具有至少一个线性区段的热梯度。

6.如在权利要求1中限定的所述方法,其中产生所述热梯度的所述方法进一步包括产生具有多个线性区段的热梯度。

7.如在权利要求1中限定的所述方法,其中产生所述热梯度的所述方法进一步包括自多个分级线性区段产生所述热梯度。

8.如在权利要求1中限定的所述方法,其中产生所述热梯度的所述方法进一步包括产生具有至少一个递增而不改变所述热梯度基本上单调非增的区段并且具有基本上非负的二阶导数的热梯度。

9.如在权利要求1中限定的所述方法,其中产生所述热梯度的所述方法进一步包括在所述柱内保留所述热梯度。

10.如在权利要求1中限定的所述方法,其中所述方法进一步包括沿着所述柱的长度均匀地施加所述次级热以从而升高所述热梯度。

11.如在权利要求10中限定的所述方法,其中沿着所述柱的长度均匀地施加所述次级热以从而升高所述热梯度的所述方法进一步包括保留所述热梯度的轮廓。

12.如在权利要求1中限定的所述方法,其中所述方法进一步包括通过修改所述初级热、修改所述次级热、或修改所述初级热和所述次级热的组合,沿着所述柱的长度修改所述热梯度。

13.如在权利要求1中限定的所述方法,其中所述方法进一步包括:

在所述柱的末端处获得所述化合物的峰的压缩;和

从所述柱洗脱所述化合物并洗脱入所述检测器。

14.如在权利要求1中限定的所述方法,其中所述方法进一步包括:

从所述柱洗脱所述化合物并洗脱入所述检测器;和

获得增大的敏感度,因为当通过所述检测器分析时,所述化合物的所述峰可以更高和更对称。

15.如在权利要求1中限定的所述方法,其中所述方法进一步包括:

提供平面基底材料作为所述柱的基底;

从所述平面基底材料的上表面移除材料以从而在所述上表面中形成所述柱;和

在所述基底材料的所述上表面上布置盖以完成所述平面基底材料中所述柱的形成。

16.如在权利要求15中限定的所述方法,其中所述方法进一步包括:

提供初级热源以向所述平面基底材料施加所述初级热以从而产生所述热梯度;和

提供次级热源以向所述平面基底材料施加所述次级热以从而修改所述热梯度。

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