[发明专利]用于光谱学的改进的机动可变路径长度单元

权利要求书

1.一种用于测量样本的光学性质的设备，其包括：

第一窗口和第二窗口；其中所述第一窗口经配置以经由自由空间从光学能量源接收辐射且所述第二窗口配置有并入的光检测器，所述光检测器用于以光学方式询问在所述一对窗口之间的经安置样本，并且其中所述第一窗口和所述第二窗口都可相对于所述光学能量源的定位移动，并且其中所述第一窗口的表面和所述第二窗口的表面进一步经配置以对应地提供第一光楔和第二光楔以便最小化通道光谱；以及

处理器，其经调适以控制所述第一窗口和所述第二窗口的经配置表面之间在可变距离(P)处的分离，以便将所述经安置样本拉动到表面张力所包含的列中或以便在光学分析期间挤压所述样本，其中所述处理器另外经配置以自动地收集且存储经拉动和/或经挤压样本的不同光程长度的信息，其中所述处理器通过引导机动机构以移动配置有所述一对窗口中的一个的经耦合样本台而控制所述一对窗口之间的所述分离。

2.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一窗口配置有相对于彼此成角度的一对平坦表面以提供所述第一光楔，且所述第二窗口配置有平坦表面和偏心圆锥表面以提供所述第二光楔。

3.根据权利要求2所述的设备，其中所述第二窗口的所述平坦表面指向所述光检测器且所述偏心圆锥表面指向所述样本。

4.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一窗口和所述第二窗口各自配置有相对于彼此成角度的一对平坦表面以对应地提供所述第一光楔和所述第二光楔。

5.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一窗口和所述第二窗口各自配置有平坦表面和偏心圆锥表面以对应地提供所述第一光楔和所述第二光楔。

6.根据权利要求5所述的设备，其中所述第二窗口的所述平坦表面指向所述光检测器且所述偏心圆锥表面指向所述样本，且所述第一窗口的所述偏心圆锥表面指向所述光学能量源且所述平坦表面指向所述样本。

7.根据权利要求1所述的设备，其中所述一对窗口配置有0.005毫米(mm)的最小尺寸直至至多50毫米(mm)的最大尺寸。

8.根据权利要求1所述的设备，其中具有所述并入的光检测器的所述窗口另外地耦合到配置有接触电阻系统的机械止动器，所述接触电阻系统使得所述处理器能够校准最小路径长度的点。

9.根据权利要求1所述的设备，其中所述处理器经配置以自动地降低所述样本台以防止在向下放置配置有所述一对窗口中的一个的臂时损害所述一对窗口。

10.根据权利要求9所述的设备，其中所述处理器进一步经配置以在之后引导所述样本台以升高且挤压所述样本。

11.根据权利要求1所述的设备，其中所述处理器进一步经配置以通过经耦合样本台在从5微米直至10,000微米的长度范围上的移动调整所述样本的光程长度。

12.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一窗口和所述第二窗口的所述表面中的至少一个包括圆锥形状，所述圆锥形状具有高侧和低侧而没有在中心的尖高点。

13.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一窗口和所述第二窗口的所述表面中的至少一个包括具有制造的高点的圆锥形状。