[发明专利]传感器、输入装置和电子设备

说明书

一种传感器，包括：导体层；具有检测区域并包括在检测区域中二维地布置的多个检测单元的检测层；和分隔导体层和检测层的多个结构体。在多个检测单元中，至少在检测区域的外围侧上设置的检测单元设置在沿检测区域的外围朝向内侧的方向、自二维布置的基准位置移位的位置上。

技术领域

本发明涉及能够静电地检测输入操作的传感器、输入装置和电子设备。

背景技术

作为用于电子设备的传感器，已知例如包括能够检测操作物相对于输入操作表面的操作位置和按压力的电容元件的配置(例如，参考专利文献1)。

引文列表

专利文献

专利文献1：JP 2011-170659A

发明内容

技术问题

为了改进传感器的可操作性，近年来已经要求各种特性的改进，且它们中的一个是操作的检测精度的改进。

因此，本发明的目的是提供能够改进检测精度的传感器、输入装置和电子设备。

技术方案

为了解决以上描述的问题，根据第一技术，提供了一种传感器，包括：导体层；具有检测区域并且在检测区域中二维地布置的多个检测单元的检测层；和分隔导体层和检测层的多个结构体。在多个检测单元中，至少在检测区域的外围侧上设置的检测单元被设置在沿着从检测区域外围朝向内侧的方向、相对于二维布置的基准位置移位的位置上。

根据第二技术，提供了一种传感器，包括：第一导体层；第二导体层；在第一导体层和第二导体层之间设置的检测层，该检测层具有检测区域并包括在检测区域中二维地布置的多个检测单元；分隔第一导体层和检测层的多个第一结构体；和分隔检测层和第二导体层的多个第二结构体。在多个检测单元中，至少在检测区域的外围侧上设置的检测单元被设置在沿着从检测区域外围朝向内侧的方向、相对于二维布置的基准位置移位的位置上。

根据第三技术，提供了一种输入装置，包括：操作单元；在操作单元的表面上或者操作单元的内部设置的导体层；具有检测区域并包括在检测区域中二维地布置的多个检测单元的检测层；和分隔导体层和检测层的多个结构体。在多个检测单元中，至少在检测区域的外围侧上设置的检测单元被设置在沿着从检测区域外围朝向内侧的方向、相对于二维布置的基准位置移位的位置上。

根据第四技术，提供了一种输入装置，包括：操作单元；在操作单元的表面上或者操作单元的内部设置的第一导体层；第二导体层；在第一导体层和第二导体层之间设置的检测层，该检测层具有检测区域并包括在检测区域中二维地布置的多个检测单元；分隔第一导体层和检测层的多个第一结构体；和分隔检测层和第二导体层的多个第二结构体。在多个检测单元中，至少在检测区域的外围侧上设置的检测单元被设置在沿着从检测区域外围朝向内侧的方向、相对于二维布置的基准位置移位的位置上。

根据第五技术，提供了一种电子设备，包括：操作单元；在操作单元的表面上或者操作单元的内部设置的导体层；具有检测区域并包括在检测区域中二维地布置的多个检测单元的检测层；和分隔导体层和检测层的多个结构体。在多个检测单元中，至少在检测区域的外围侧上设置的检测单元被设置在沿着从检测区域外围朝向内侧的方向、相对于二维布置的基准位置移位的位置上。

根据第六技术，提供了一种电子设备，包括：操作单元；在操作单元的表面上或者操作单元的内部设置的第一导体层；第二导体层；在第一导体层和第二导体层之间设置的检测层，该检测层具有检测区域并包括在检测区域中二维地布置的多个检测单元；分隔第一导体层和检测层的多个第一结构体；和分隔检测层和第二导体层的多个第二结构体。在多个检测单元中，至少在检测区域的外围侧上设置的检测单元被设置在沿着从检测区域外围朝向内侧的方向、相对于二维布置的基准位置移位的位置上。

技术效果