[发明专利]光电子半导体芯片有效
| 申请号: | 201480040795.7 | 申请日: | 2014-06-25 |
| 公开(公告)号: | CN105393369B | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
| 发明(设计)人: | 卡尔·恩格尔;格奥尔格·哈通;约翰·艾布尔;迈克尔·胡贝尔;马库斯·毛特 | 申请(专利权)人: | 欧司朗光电半导体有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/44 | 分类号: | H01L33/44;H01L33/00;H01L33/22;H01L33/38;H01L33/40 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 丁永凡,张春水 |
| 地址: | 德国雷*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光电子 半导体 芯片 | ||
1.一种光电子半导体芯片,具有:
-半导体本体(10),所述半导体本体包括n型传导的区域(2)、设置用于产生电磁辐射的有源区域(4)和p型传导的区域(3);
-第一镜层(21),所述第一镜层设置用于反射电磁辐射;
-第一封装层(11),所述第一封装层通过电绝缘的材料形成;
-第二封装层(12),所述第二封装层通过电绝缘的材料形成;和
-第三封装层(13),所述第三封装层通过电绝缘的材料形成,
其中
-所述第一镜层(21)设置在所述p型传导的区域(3)的下侧上,-所述有源区域(4)设置在所述p型传导的区域(3)的背离所述第一镜层(21)的侧上,
-所述n型传导的区域(2)设置在所述有源区域(4)的背离所述p型传导的区域(3)的侧上,
-所述第一封装层、第二封装层和第三封装层(11、12、13)局部地覆盖所述半导体本体(10)的外面,
-所述第三封装层(13)完全地遮盖所述第一镜层(21)的背离所述p型传导的区域(3)的侧并且局部地与所述第一镜层(21)直接接触,
-所述第二封装层(12)和所述第三封装层(13)在所述第一镜层(21)的侧向的区域中局部地彼此直接接触,
-所述第二封装层(12)和所述第三封装层(13)是ALD层,亦即:原子层沉积层,并且
-所述第一镜层(21)的侧面和所述n型传导的区域(2)的侧面之间的间距在横向方向上至多为2.5μm。
2.一种光电子半导体芯片,具有:
-半导体本体(10),所述半导体本体包括n型传导的区域(2)、设置用于产生电磁辐射的有源区域(4)和p型传导的区域(3);
-第一镜层(21),所述第一镜层设置用于反射电磁辐射;
-第二镜层(22),
-第一封装层(11)、第二封装层(12)和第三封装层(13),所述第一封装层、第二封装层和第三封装层分别通过电绝缘的材料形成,
其中
-所述第一镜层(21)设置在所述p型传导的区域(3)的下侧上,-所述有源区域(4)设置在所述p型传导的区域(3)的背离所述第一镜层(21)的侧上,
-所述n型传导的区域(2)设置在所述有源区域(4)的背离所述p型传导的区域(3)的侧上,
-所述第一封装层、第二封装层和第三封装层(11、12、13)局部地覆盖所述半导体本体(10)的外面,
-所述第三封装层(13)完全地遮盖所述第一镜层(21)的背离所述p型传导的区域(3)的侧并且局部地与所述第一镜层(21)直接接触,
-所述第二封装层(12)和所述第三封装层(13)在所述第一镜层(21)的侧向的区域中局部地彼此直接接触,并且
-所述第二封装层(12)和所述第三封装层(13)是ALD层,亦即:原子层沉积层,
-所述第二镜层(22)设置在所述第三封装层(13)的背离所述半导体本体(10)的下侧上,
-所述第二镜层(22)沿着横向方向伸出所述半导体本体(10)的所述外面,并且
-所述第一镜层(21)的侧面和所述n型传导的区域(2)的侧面之间的间距在横向方向上至多为2.5μm。
3.根据权利要求1或2所述的光电子半导体芯片,
其中所述第一封装层(11)在所述半导体本体(10)的所述外面上从所述有源区域(4)沿着所述p型传导的区域(3)延伸直至所述第一镜层(21)的侧面,其中所述第一封装层(11)与所述第一镜层(21)直接接触。
4.根据权利要求1或2所述的光电子半导体芯片,
具有第四封装层(14),所述第四封装层完全地遮盖所述第三封装层(13)的背离所述半导体本体(10)的侧并且至少局部地与所述第三封装层(13)直接接触。
5.根据权利要求1或2所述的光电子半导体芯片,
具有第五封装层(15),所述第五封装层是ALD层,亦即:原子层沉积层,其中所述第五封装层(15)至少在所述n型传导的区域(2)上完全地覆盖所述半导体本体(10)的所述外面并且在所述半导体本体(10)的侧向局部地与所述第二封装层(12)直接接触。
6.根据权利要求5所述的光电子半导体芯片,
其中所述第二封装层(12)在与所述第五封装层(15)接触的区域中具有刻蚀工艺的痕迹。
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