[发明专利]光电子半导体芯片有效

专利信息
申请号: 201480040795.7 申请日: 2014-06-25
公开(公告)号: CN105393369B 公开(公告)日: 2018-01-12
发明(设计)人: 卡尔·恩格尔;格奥尔格·哈通;约翰·艾布尔;迈克尔·胡贝尔;马库斯·毛特 申请(专利权)人: 欧司朗光电半导体有限公司
主分类号: H01L33/44 分类号: H01L33/44;H01L33/00;H01L33/22;H01L33/38;H01L33/40
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 丁永凡,张春水
地址: 德国雷*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光电子 半导体 芯片
【权利要求书】:

1.一种光电子半导体芯片,具有:

-半导体本体(10),所述半导体本体包括n型传导的区域(2)、设置用于产生电磁辐射的有源区域(4)和p型传导的区域(3);

-第一镜层(21),所述第一镜层设置用于反射电磁辐射;

-第一封装层(11),所述第一封装层通过电绝缘的材料形成;

-第二封装层(12),所述第二封装层通过电绝缘的材料形成;和

-第三封装层(13),所述第三封装层通过电绝缘的材料形成,

其中

-所述第一镜层(21)设置在所述p型传导的区域(3)的下侧上,-所述有源区域(4)设置在所述p型传导的区域(3)的背离所述第一镜层(21)的侧上,

-所述n型传导的区域(2)设置在所述有源区域(4)的背离所述p型传导的区域(3)的侧上,

-所述第一封装层、第二封装层和第三封装层(11、12、13)局部地覆盖所述半导体本体(10)的外面,

-所述第三封装层(13)完全地遮盖所述第一镜层(21)的背离所述p型传导的区域(3)的侧并且局部地与所述第一镜层(21)直接接触,

-所述第二封装层(12)和所述第三封装层(13)在所述第一镜层(21)的侧向的区域中局部地彼此直接接触,

-所述第二封装层(12)和所述第三封装层(13)是ALD层,亦即:原子层沉积层,并且

-所述第一镜层(21)的侧面和所述n型传导的区域(2)的侧面之间的间距在横向方向上至多为2.5μm。

2.一种光电子半导体芯片,具有:

-半导体本体(10),所述半导体本体包括n型传导的区域(2)、设置用于产生电磁辐射的有源区域(4)和p型传导的区域(3);

-第一镜层(21),所述第一镜层设置用于反射电磁辐射;

-第二镜层(22),

-第一封装层(11)、第二封装层(12)和第三封装层(13),所述第一封装层、第二封装层和第三封装层分别通过电绝缘的材料形成,

其中

-所述第一镜层(21)设置在所述p型传导的区域(3)的下侧上,-所述有源区域(4)设置在所述p型传导的区域(3)的背离所述第一镜层(21)的侧上,

-所述n型传导的区域(2)设置在所述有源区域(4)的背离所述p型传导的区域(3)的侧上,

-所述第一封装层、第二封装层和第三封装层(11、12、13)局部地覆盖所述半导体本体(10)的外面,

-所述第三封装层(13)完全地遮盖所述第一镜层(21)的背离所述p型传导的区域(3)的侧并且局部地与所述第一镜层(21)直接接触,

-所述第二封装层(12)和所述第三封装层(13)在所述第一镜层(21)的侧向的区域中局部地彼此直接接触,并且

-所述第二封装层(12)和所述第三封装层(13)是ALD层,亦即:原子层沉积层,

-所述第二镜层(22)设置在所述第三封装层(13)的背离所述半导体本体(10)的下侧上,

-所述第二镜层(22)沿着横向方向伸出所述半导体本体(10)的所述外面,并且

-所述第一镜层(21)的侧面和所述n型传导的区域(2)的侧面之间的间距在横向方向上至多为2.5μm。

3.根据权利要求1或2所述的光电子半导体芯片,

其中所述第一封装层(11)在所述半导体本体(10)的所述外面上从所述有源区域(4)沿着所述p型传导的区域(3)延伸直至所述第一镜层(21)的侧面,其中所述第一封装层(11)与所述第一镜层(21)直接接触。

4.根据权利要求1或2所述的光电子半导体芯片,

具有第四封装层(14),所述第四封装层完全地遮盖所述第三封装层(13)的背离所述半导体本体(10)的侧并且至少局部地与所述第三封装层(13)直接接触。

5.根据权利要求1或2所述的光电子半导体芯片,

具有第五封装层(15),所述第五封装层是ALD层,亦即:原子层沉积层,其中所述第五封装层(15)至少在所述n型传导的区域(2)上完全地覆盖所述半导体本体(10)的所述外面并且在所述半导体本体(10)的侧向局部地与所述第二封装层(12)直接接触。

6.根据权利要求5所述的光电子半导体芯片,

其中所述第二封装层(12)在与所述第五封装层(15)接触的区域中具有刻蚀工艺的痕迹。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于欧司朗光电半导体有限公司,未经欧司朗光电半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480040795.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top