[发明专利]用于识别和量化系统中的放射粒子的方法有效

专利信息
申请号: 201480038879.7 申请日: 2014-07-07
公开(公告)号: CN105518438B 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: D·B·格赖纳 申请(专利权)人: 弗劳恩霍弗应用技术研究院
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G06F17/18
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 李隆涛
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 识别 量化 系统 中的 放射 粒子 方法
【权利要求书】:

1.一种用于对放射特定放射体的粒子量化和用于对系统中的粒子的时间相关性能特征化的方法,所述系统包括至少一个种类j的粒子,其中,粒子放射在测量周期期间的测量内受测,且在所述测量周期内的具有预定间隔宽度的一段时间间隔内已被受测的放射数量n在评估中被确定且被存储,其中,所述评估执行具有同一间隔宽度的数个时间间隔,其中,受测的放射数量n的分布函数p(n)被确定,

其特征在于,

a)不同区段时间τ被规定用于所述间隔宽度,且对于每个区段时间τ实施所述评估以及明确分布函数pτ(n),且其中,对于每个区段时间τ明确分布函数pτ(n)的矩且由此制备区段时间相关矩函数

b)特征化所述系统中的粒子的常量通过将包括理论信号分布Psig(n,τ)的矩在内的理论信号函数数值拟合到包括所述矩函数的测量值函数而被明确,所述理论信号分布表示借助于理论函数确定的预期信号分布。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,理论信号函数基于理论信号分布Psig(n,τ)的定义,所述理论信号分布追溯到:对于种类j的粒子的特定局部检测率的假设,其中,代表粒子的特征性检测亮度;种类j的粒子的特定局部概率分布和特定局部放射概率的假设;以及特定测量体积V的假设,粒子必须位于所述特定测量体积中以使得粒子放射可以受测,其中,Psig(n,τ)包括粒子种类j的局部检测率部分浓度cj和衰减时间θj、以及测量设备的噪音性能作为独立于区段时间的参数,且其中,所述常量至少与参数μ0,j,θj相关。

3.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于,当将所述方法应用到具有s个不同粒子种类的系统时,为每个粒子种类规定理论种类信号分布其中,所述系统的理论信号分布Psig(n,τ)由s个不同种类的s个不同信号分布的s+1重卷积和噪音信号分布Pnoise(n,τ)确定。

4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在Psig(n,τ)的定义中使用的测量体积V借助于区段时间相关的、假设引入的有效体积Veff,j(τ)定义,其中,由定义,来自定位在体积τVeff,j(τ)中的种类j的每个粒子的至少一个放射物在区段时间τ期间受测,且粒子在区段时间τ期间不离开τVeff,j(τ),其中,由定义,Veff,j(τ)中的种类j的粒子的平均数量通过ωj(τ)=cjVeff,j(τ)τ由平均占据数量ωj(τ)确定。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,泊松分布被假设为占据数量的分布。

6.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在确定理论信号分布Psig(n,τ)中假设粒子的局部放射概率根据泊松分布而分布。

7.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,对于每个区段时间τ,区段时间相关平均值和区段时间相关方差σ2(τ)由分布函数pτ(n)确定,且测量值函数包括和σ2(τ)。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,被规定为测量值函数,其中,数值拟合借助于关系式执行,其中,代表Psig(n,τ)的一阶矩且代表二阶矩。

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