[发明专利]评价包封膜的可靠寿命的方法以及用于评价所述膜的可靠性的装置

说明书

本申请提供一种评价包封膜的可靠寿命的方法以及用于评价膜的可靠性的装置。本申请可以提供一种膜，提供该膜以用于一种可以在马上就使用包封膜之前仅通过测量雾度就可以简单容易地评价包封膜的可靠性的评价方法，确定产品的失败并可以预测可靠性。

技术领域

本申请涉及一种评价包封膜的可靠寿命的方法以及用于评价该膜的可靠性的装置。

背景技术

包封膜可以用于保护对外部因素例如水或氧气敏感的元件和装置等。可以用包封膜保护的元件或装置包括，例如，有机电子装置、太阳能电池、或可充电电池例如可充电锂电池。尤其在这些元件或装置中，有机电子装置易受外部因素例如水或氧气的影响。

有机电子装置是包括功能性有机材料的装置。作为有机电子装置或包括在有机电子装置中的有机电子元件，例如可以为光伏装置、整流器、发射器和有机发光二极管(OLED)等。

通常，有机电子装置易受外部因素例如水影响。例如，有机发光元件通常包括由功能性有机材料形成的层，该层位于一对包含金属或金属氧化物的电极之间。当水从外部渗入时，存在如下问题：由有机材料形成的层由于湿气的影响在与电极的界面处剥落，电极被水氧化从而导致电阻值的增加，有机材料本身退化从而导致发光功能的损失或者亮度的降低。

因此，为了保护有机发光元件免受外部环境因素例如水的影响，如下以及类似的包封结构被采用，在该包封结构中，形成在基板上的有机发光元件用装有吸气剂或吸湿剂的玻璃罐或金属罐覆盖，并用粘合剂固定。另外，使用包封膜代替包封结构来密封有机发光元件的方法也被采用。

发明内容

技术问题

本申请涉及一种容易地评价包封膜的可靠性的方法以及用于评价所述膜的可靠性的装置。

技术方案

根据本申请的实施方案，提供一种评价包封膜的可靠性的方法。例如，根据本申请的方法，当制备有机电子装置面板时，由于可以在使用包封膜之前通过测定雾度来容易地确定膜的可用性，因此，可以提供能够使有机电子装置的失败率最小化的膜。

在相关技术领域中，有机发光元件用装有吸气剂或吸湿剂的玻璃罐或金属罐覆盖并用粘合剂固定的包封结构有如下问题，当形成在基板上的有机发光元件和装有吸气剂或吸湿剂的玻璃罐或金属罐分离时形成间隙，空气或氧气在该间隙中混合，这会缩短有机发光元件的寿命。因此，使用直接覆盖和密封有机发光元件的包封粘合膜。然而，一些包封粘合膜具有良好的粘合性，却具有低的耐热性和防水性。因此，为了解决此问题，使用通过将例如具有水反应性的金属氧化物的吸湿剂分散在粘合剂膜中来制备的包封膜。在所述含有吸湿剂的包封膜中，由于吸湿剂化学地吸收渗入膜中的水分，可以降低水分渗入有机发光元件中的速率。

在将上述含有水反应性吸湿剂的包封膜应用至面板以包封有机发光元件时，需要测定可靠性。这是因为，当在包封膜的制备、运输和储存等的过程中，包封膜中的一些吸湿剂已经与水反应时，在将该膜应用至面板时可以阻挡水分的吸湿剂的个体数目下降，从而该包封膜的可靠性降低。

在将含有吸湿剂的包封膜应用至面板之前，该膜防水性的常规的可靠性评价方法包括增重法、钙试验法等。所述增重法基于当膜与水反应时重量会增加的原理，但是由于粘合树脂相对于吸湿剂的含量和玻璃化转变温度较高，因此该法并不精确。另一种方法钙试验法利用钙被水氧化而变得透明的性质。在钙试验法中，钙沉积在玻璃上，被密封粘合膜和玻璃密封，并在相对湿度85％和85℃的条件下保持预定的时间。然后，利用钙变得透明的时间来评价可靠性。然而，这个方法花费时间来制备样品，而且该方法花费300小时或更久让水渗入测试样品中的钙中。因此，该方法不适合作为在生产阶段在马上就要将膜应用至面板之前的包封膜的可靠性评价方法。

因此，为了引入比相关技术领域中的包封膜的可靠性评价方法更简单和更精确的评价方法，本发明人设计了利用雾度测量的评价方法。