[发明专利]高纯度1-氟代丁烷及等离子体蚀刻方法在审
申请号: | 201480034675.6 | 申请日: | 2014-06-16 |
公开(公告)号: | CN105324356A | 公开(公告)日: | 2016-02-10 |
发明(设计)人: | 杉本达也 | 申请(专利权)人: | 日本瑞翁株式会社 |
主分类号: | C07C19/08 | 分类号: | C07C19/08;C07C17/383;C07C17/389;H01L21/3065 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 袁波;刘继富 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 纯度 丁烷 等离子体 蚀刻 方法 | ||
【权利要求书】:
1.1-氟代丁烷,其特征在于,纯度为99.9体积%以上,丁烯类合计为1000体积ppm以下。
2.权利要求1所述的1-氟代丁烷,其中,氮含量为100体积ppm以下以及氧含量为50体积ppm以下。
3.权利要求1或2所述的1-氟代丁烷,其中,水分含量为50体积ppm以下。
4.权利要求1~3的任一项中所述的1-氟代丁烷作为干蚀刻气体的用途。
5.干蚀刻方法,其特征在于,将权利要求1~3的任一项中所述的1-氟代丁烷用作蚀刻气体。
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