[发明专利]检体传感器以及检体传感方法

权利要求书

1.一种检体传感器，具备：

检测元件，其具有质量根据检体中所含的靶物的吸附或者与所述靶物的反应而发生变化的检测部，并输出与所述检测部的质量变化相应的交流信号即检测信号；

参考元件，其具有不吸附所述靶物或者不与所述靶物反应的参考部，并输出针对所述检测信号的交流信号即参考信号；

分支部，其将所述检测信号以及所述参考信号之中的一个信号分支为第1信号和第2信号，将另一个信号分支为第3信号和第4信号；

第1计算部，其根据所述第1信号和所述第3信号并利用外差方式来获得第1计测信号；

第2计算部，其根据所述第2信号和所述第4信号并利用外差方式来获得相位与所述第1计测信号不同且相位差除±180°之外的第2计测信号；

计测部，其根据所述第1计测信号来算出两个第1相位变化候选值，根据所述第2计测信号来算出两个第2相位变化候选值，将所述两个第1相位变化候选值和所述两个第2相位变化候选值之中的形成值最接近的组合的候选值设为第1相位变化值以及第2相位变化值；和

选择部，其将所述第1相位变化值和所述第2相位变化值之中的信号的输出值接近基准值的一方选择为相位变化值。

2.根据权利要求1所述的检体传感器，其特征在于，

所述检测元件包括：具有压电性的第1基板、分别配置在所述第1基板上的所述检测部、朝向所述检测部产生弹性波的检测第1IDT电极、和接受通过了所述检测部的所述弹性波的检测第2IDT电极，

所述参考元件包括：具有压电性的第2基板、分别配置在所述第2基板上的所述参考部、朝向所述参考部产生弹性波的参考第1IDT电极、和接受通过了所述参考部的所述弹性波的参考第2IDT电极，

所述检测信号是由所述检测第2IDT电极接受通过了所述检测部的所述弹性波而获得的交流信号，

所述参考信号是由所述参考第2IDT电极接受通过了所述参考部的所述弹性波而获得的交流信号。

3.根据权利要求1或2所述的检体传感器，其特征在于，

所述检体传感器还具备：

第1低噪声放大器，其位于所述检测元件与所述分支部之间，放大来自所述检测元件的所述检测信号；和

第2低噪声放大器，其位于所述参考元件与所述分支部之间，放大来自所述参考元件的所述参考信号。

4.一种检体传感器，具备：

检测元件，其具有质量根据检体中所含的靶物的吸附或者与所述靶物的反应而发生变化的检测部，并输出与所述检测部的质量变化相应的交流信号即检测信号；

参考元件，其具有不吸附所述靶物或者不与所述靶物反应的参考部，并输出针对所述检测信号的交流信号即参考信号；

分支部，其将所述检测信号以及所述参考信号之中的一个信号分支为两个相位相同的第1信号和第2信号，将另一个信号分支为相位与所述第1信号相同的第3信号以及相位与所述第1信号不同且相位差除±180°之外的第4信号；

第1计算部，其根据所述第1信号和所述第3信号并利用外差方式来获得第1计测信号；

第2计算部，其根据所述第2信号和所述第4信号并利用外差方式来获得第2计测信号；

计测部，其根据所述第1计测信号来算出两个第1相位变化候选值，根据所述第2计测信号来算出两个第2相位变化候选值，将所述两个第1相位变化候选值和所述两个第2相位变化候选值之中的形成值最接近的组合的候选值设为第1相位变化值以及第2相位变化值；和

选择部，其预先求出所述第1计测信号和所述第2计测信号的轨迹的两个交点的强度，将所述第1计测信号和所述第2计测信号之中的位于所述两个交点的强度之间的信号选择为计测信号，将所述第1相位变化值和所述第2相位变化值之中的与所述计测信号对应的值选择为相位变化值。

5.根据权利要求4所述的检体传感器，其特征在于，

所述第4信号的相位与所述第3信号的相位相差90°。