[发明专利]β-Ga2O3系单晶的培养方法、以及β-Ga2O3系单晶基板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201480025539.0 申请日: 2014-05-02
公开(公告)号: CN105189836B 公开(公告)日: 2018-11-30
发明(设计)人: 舆公祥;增井建和;泷泽胜 申请(专利权)人: 株式会社田村制作所;株式会社光波
主分类号: C30B29/16 分类号: C30B29/16;C30B15/34
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 徐谦;张铁兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: ga sub 系单晶 培养 方法 以及 系单晶基板 及其 制造
【权利要求书】:

1.一种β-Ga2O3系单晶的培养方法,其使用EFG法,包含如下工序:

使坩埚内的Ga2O3系熔体通过模具的狭缝上升到所述模具的开口部为止,在晶种的水平方向的位置从所述模具的宽度方向W的中心向所述宽度方向W的端部侧偏移的状态下,使所述晶种与位于所述模具的开口部的所述Ga2O3系熔体接触;以及

提拉与所述Ga2O3系熔体接触了的所述晶种,使β-Ga2O3系单晶生长。

2.根据权利要求1所述的β-Ga2O3系单晶的培养方法,其中,

在所述晶种的水平方向的位置位于所述模具的所述宽度方向W的端部上的状态下,使所述晶种与位于所述模具的开口部的所述Ga2O3系熔体接触。

3.根据权利要求1所述的β-Ga2O3系单晶的培养方法,其中,

使所述β-Ga2O3系单晶在b轴方向生长。

4.根据权利要求1所述的β-Ga2O3系单晶的培养方法,其中,

所述β-Ga2O3系单晶是以(101)面、(-201)面或者(001)面为主面的平板状单晶。

5.根据权利要求1所述的β-Ga2O3系单晶的培养方法,进一步包含如下工序:

从所述β-Ga2O3系单晶切出第2晶种;

使第2坩埚内的第2Ga2O3系熔体通过第2模具的狭缝上升到所述第2模具的开口部为止,使所述第2晶种与位于所述第2模具的开口部的所述第2Ga2O3系熔体接触;以及

提拉与所述第2Ga2O3系熔体接触了的所述第2晶种,使第2β-Ga2O3系单晶在向厚度方向扩肩后平板状生长。

6.根据权利要求5所述的β-Ga2O3系单晶的培养方法,其中,

所述第2晶种是从第1区域与所述β-Ga2O3系单晶的所述宽度方向的两端部中的到所述第1区域的距离大的一方的端部之间的区域切出的,上述第1区域曾在所述β-Ga2O3系单晶生长时位于所述晶种的正下方。

7.根据权利要求5所述的β-Ga2O3系单晶的培养方法,进一步包含如下工序:

从所述第2β-Ga2O3系单晶切出第3晶种;

使第3坩埚内的第3Ga2O3系熔体通过第3模具的狭缝上升到所述第3模具的开口部为止,使所述第3晶种与位于所述第3模具的开口部的所述第3Ga2O3系熔体接触;以及

提拉与所述第3Ga2O3系熔体接触了的所述第3晶种,使第3β-Ga2O3系单晶生长。

8.根据权利要求2所述的β-Ga2O3系单晶的培养方法,其中,使所述β-Ga2O3系单晶在b轴方向生长。

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