[发明专利]螺旋计算机断层成像

权利要求书

1.一种X射线成像系统，所述X射线成像系统包括：

X射线发生器；

一个或多个辐射探测器；

旋转平台，所述旋转平台具有旋转轴，所述旋转轴设置成垂直于由所述X射线发生器发射的X射线束的轴；

线性平移平台，所述线性平移平台具有沿着所述旋转平台的所述旋转轴设置的运动轴；

运动控制系统，所述运动控制系统同步化所述旋转平台的旋转运动和所述线性平移平台的线性运动；以及

数据获取系统，所述数据获取系统包括一个或多个处理器，所述处理器配置用于：

接收用户输入参数；

至少部分地基于所述用户输入参数来配置所述X射线成像系统以获取射线照片；以及

至少部分地基于所述射线照片生成在所述旋转平台上的物体的三维图像，

其中，当生成所述三维图像时，所述数据获取系统将高斯型加权的背投影滤波函数应用至所述射线照片从而以一种平滑变化的方式给低角度切面较大的权重。

2.根据权利要求1所述的X射线成像系统，其中所述一个或多个辐射探测器包括平板辐射探测器。

3.根据权利要求1所述的X射线成像系统，其中所述X射线发生器提供能量范围为20keV到600keV的X射线。

4.根据权利要求1所述的X射线成像系统，其中所述一个或多个辐射探测器包括透镜耦合的高分辨率X射线探测器。

5.根据权利要求4所述的X射线成像系统，其中所述透镜耦合的高分辨率X射线探测器具有在0.1微米到10微米的范围内的像素大小。

6.根据权利要求5所述的X射线成像系统，其中所述一个或多个辐射探测器包括平板探测器，所述平板探测器具有在从25微米到300微米的范围内的像素大小。

7.根据权利要求4所述的X射线成像系统，其中所述一个或多个辐射探测器包括平板探测器，并且所述X射线成像系统还包括机械机构，所述机械机构用于在至少所述透镜耦合的高分辨率X射线探测器和所述平板探测器之间切换。

8.根据权利要求1所述的X射线成像系统，其中所述一个或多个辐射探测器包括线性二极管阵列型辐射探测器。

9.根据权利要求1所述的X射线成像系统，其中所述用户输入参数包括线性扫描范围，并且所述数据获取系统的所述一个或多个处理器被配置用于：

使用一种或多种算法来至少部分地基于所述线性扫描范围确定一个或多个附加的数据获取参数；以及

至少部分地基于所述一个或多个附加的数据获取参数来配置所述X射线成像系统以获取所述射线照片。

10.根据权利要求1所述的X射线成像系统，其中：

所述用户输入参数包括多个用户输入参数，

所述多个用户输入参数包括零件高度，所述零件高度指示所述物体的高度，

所述数据获取系统设置成接收所述用户输入参数，作为接收所述用户输入参数的一部分，所述数据获取系统设置成接收用户输入所述零件高度的指示，

所述数据获取系统进一步配置成至少基于所述零件高度来计算所述多个用户输入参数中的另一个用户输入参数，

其中所述另一个用户输入参数为以下中的一个：螺距、螺旋组的数目、每组的旋转次数、每次旋转的投影数目、每一投影的高度差、每一投影的角度差、计算机断层扫描中的总高度差、计算机断层扫描中转过的总度数、在计算机断层扫描期间样本的总旋转次数、或在计算机断层扫描期间获取的投影的总数。