[发明专利]半导体装置制造用临时粘合用层叠体、和半导体装置的制造方法有效
| 申请号: | 201480018461.X | 申请日: | 2014-03-27 |
| 公开(公告)号: | CN105122427B | 公开(公告)日: | 2017-09-19 |
| 发明(设计)人: | 小山一郎;岩井悠;吉田昌史 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
| 主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;C09J4/00;C09J11/06;C09J201/00 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 葛凡 |
| 地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 制造 临时 粘合 层叠 方法 | ||
1.一种半导体装置制造用临时粘合用层叠体,其是具有(A)剥离层和(B)粘合性层的半导体装置制造用临时粘合用层叠体,其中,所述(A)剥离层具有:(a1)具有200℃以上的软化点且与(B)粘合性层邻接的第一剥离层;和(a2)具有固化后在25℃于选自己烷、庚烷、乙酸乙酯、丙酮、甲醇、乙醇、异丙醇、1,4-二噁烷、四氢呋喃、1-甲氧基-2-丙醇、2-乙酰氧基-1-甲氧基丙烷、乙腈、甲乙酮、环己酮、甲苯、二甲亚砜、N,N-二甲基甲酰胺、N,N-二甲基乙酰胺、N-甲基-2-吡咯烷酮、N-乙基-2-吡咯烷酮、氯仿、二氯甲烷、苯甲醚、二甲苯和三甲苯中的溶剂的至少一种中溶解5质量%以上的树脂、且与所述(a1)第一剥离层邻接的第二剥离层,
所述(B)粘合性层包含:粘结剂;聚合性单体;以及光聚合引发剂和热聚合引发剂中的至少一种。
2.根据权利要求1所述的半导体装置制造用临时粘合用层叠体,其中,
所述(a1)第一剥离层的软化点为200℃~450℃的范围内。
3.根据权利要求1或2所述的半导体装置制造用临时粘合用层叠体,其中,
所述(a1)第一剥离层含有热塑性树脂。
4.根据权利要求3所述的半导体装置制造用临时粘合用层叠体,其中,
所述热塑性树脂为选自聚醚砜树脂、聚酰亚胺树脂、聚酯树脂、聚苯并咪唑树脂、聚苯醚树脂、聚苯硫醚树脂、聚酰胺酰亚胺树脂和聚醚酮树脂中的至少一种热塑性树脂。
5.根据权利要求1或2所述的半导体装置制造用临时粘合用层叠体,其中,
所述(a2)第二剥离层所含的树脂为选自聚碳酸酯树脂、聚氨酯树脂和烃系树脂中的至少一种。
6.根据权利要求1或2所述的半导体装置制造用临时粘合用层叠体,其中,
所述(a1)第一剥离层的厚度为1~10μm,所述(a2)第二剥离层的厚度为20~100μm。
7.一种半导体装置的制造方法,其是具有下述已处理部件的半导体装置的制造方法,其中,所述制造方法具有以下工序:
使被处理部件的第1面和基板以隔着权利要求1或2所述的半导体装置制造用临时粘合用层叠体的方式粘合的工序;
对所述被处理部件实施在180℃~370℃的范围具有最高到达温度的加热处理,得到已处理部件的工序;和
将所述已处理部件从所述粘合层脱离的工序,
其中,所述第一剥离层是具有比所述加热处理中的最高到达温度更高的软化点的层。
8.根据权利要求7所述的半导体装置的制造方法,其中,
在使所述被处理部件的第1面和所述基板隔着所述临时粘合用层叠体进行粘合的工序之前,还具有对所述临时粘合用层叠体的粘合性层照射活性光线或放射线、或者热的工序。
9.根据权利要求7或8所述的半导体装置的制造方法,其中,
在将所述被处理部件从所述临时粘合用层叠体脱离的工序之后,还具有利用剥离溶剂除去残留于所述被处理部件的所述临时粘合用层叠体的工序。
10.根据权利要求7或8所述的半导体装置的制造方法,其中,
所述剥离溶剂包含烃系溶剂和醚溶剂中的至少一种。
11.根据权利要求10所述的半导体装置的制造方法,其中,
所述剥离溶剂包含环戊烷、正己烷、环己烷、正庚烷、柠檬烯、对薄荷烷、四氢呋喃THF、1,3-二氧戊环、苯甲醚中的至少一种。
12.一种包含剥离溶剂的试剂盒,其包含:包含热塑性树脂的剥离层形成用组合物和粘合性层形成用组合物,其中,所述粘合性层形成用组合物包含固化后在25℃于选自己烷、庚烷、乙酸乙酯、丙酮、甲醇、乙醇、异丙醇、1,4-二噁烷、四氢呋喃、1-甲氧基-2-丙醇、2-乙酰氧基-1-甲氧基丙烷、乙腈、甲乙酮、环己酮、甲苯、二甲亚砜、N,N-二甲基甲酰胺、N,N-二甲基乙酰胺、N-甲基-2-吡咯烷酮、N-乙基-2-吡咯烷酮、氯仿、二氯甲烷、苯甲醚、二甲苯和三甲苯中的溶剂的至少一种中溶解5质量%以上的树脂,
所述粘合性层形成用组合物包含:粘结剂;聚合性单体;以及光聚合引发剂和热聚合引发剂中的至少一种。
13.根据权利要求12所述的试剂盒,其还含有:包含烃系溶剂和醚溶剂中的至少一种的剥离溶剂。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士胶片株式会社,未经富士胶片株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480018461.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种新型LED灯灯罩
- 下一篇:一种可适应多种尺寸盘的拉篮
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





