[发明专利]支撑基板以及半导体用复合晶片有效

专利信息
申请号: 201480016581.6 申请日: 2014-10-15
公开(公告)号: CN105051862B 公开(公告)日: 2016-11-09
发明(设计)人: 高垣达朗;岩崎康范;宫泽杉夫;井出晃启;中西宏和 申请(专利权)人: 日本碍子株式会社
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;C04B35/115
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 李晓
地址: 日本国爱知县名*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 支撑 以及 半导体 复合 晶片
【权利要求书】:

1.一种支撑基板,是半导体用复合晶片的支撑基板,

所述支撑基板由多晶陶瓷烧结体形成,在所述支撑基板的外周边缘部有切口,所述切口由烧结面形成。

2.根据权利要求1所述的支撑基板,其中,所述烧成面的表面粗糙度Ra在0.5μm以下。

3.根据权利要求1或2所述的支撑基板,其中,所述烧成面通过凝胶注塑成形而成形。

4.根据权利要求1或2所述的支撑基板,其中,所述多晶陶瓷烧结体通过带状成形体的烧结而制作,所述带状成形体是使用目标形状的金属模具进行冲裁加工而成的,所述烧成面通过所述带状成形体的所述冲裁加工而成形。

5.根据权利要求1~4任意一项所述的支撑基板,其中,所述多晶陶瓷烧结体为透光性氧化铝。

6.根据权利要求1~5任意一项所述的支撑基板,其中,依据的是SEMI标准。

7.一种半导体用复合晶片,具有权利要求1~6任意一项所述的支撑基板、以及与所述支撑基板的接合面接合的施主基板。

8.根据权利要求7所述的复合晶片,其中,所述施主基板由单晶硅构成。

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