[发明专利]X射线CT装置、重构运算装置以及重构运算方法

权利要求书

1.一种X射线CT装置，其特征在于，具备：

X射线产生装置，其从被检体的周围照射X射线；

X射线检测装置，其检测透过所述被检体的X射线；

数据收集装置，其收集由所述X射线检测装置检测到的数据；

重构运算装置，其被输入由所述数据收集装置收集的数据来生成投影数据，使用所述投影数据来重构CT图像；和

显示装置，其显示所述CT图像，

所述重构运算装置具备：

迭代次数设定部，其设定对所述投影数据进行修正的迭代处理的迭代次数；

校正系数算出部，其算出对所述迭代处理中包含的第1处理函数和具有与所述第1处理函数不同的特性的第2处理函数的应用比率进行调整的校正系数；

逐次近似投影数据修正处理部，其基于所述迭代次数以及所述校正系数对所述投影数据实施所述迭代处理，生成修正投影数据；和

图像重构部，其使用所述修正投影数据重构CT图像。

2.根据权利要求1所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述重构运算装置还具备：

关系特性算出部，其算出关系特性数据，该关系特性数据表示由所述第1处理函数控制的第1画质参数以及由所述第2处理函数控制的第2画质参数与所述校正系数之间的关系；和

画质目标设定部，其对所述第1画质参数以及所述第2画质参数分别设定目标值，

所述校正系数算出部基于所述关系特性数据算出与所述目标值对应的校正系数。

3.根据权利要求2所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述X射线CT装置具备：存储部，其预先保存作为所述关系特性数据的基准的基准关系特性数据，

所述校正系数算出部具备：

特征量提取部，其提取所述投影数据的特征量；

偏移量算出部，其基于所述特征量来算出所述第1画质参数以及所述第2画质参数的各偏移量；和

关系特性更新部，其基于所述偏移量来更新所述基准关系特性数据，求取更新后关系特性数据，

所述校正系数算出部基于所述更新后关系特性数据来算出与所述目标值对应的校正系数。

4.根据权利要求3所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述特征量包含第1特征量、第2特征量和第3特征量之中的至少一者，

其中，所述第1特征量是与投影数据中表现出的被多个高吸收体边缘包围的特征区域的幅度相关的特征量，

所述第2特征量是与所述特征区域的形状相关的特征量，

所述第3特征量是与所述特征区域的投影值的大小相关的特征量。

5.根据权利要求1所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述第1处理函数是与噪声降低相关的函数，所述第2处理函数是与条纹伪影的降低相关的函数。

6.根据权利要求2所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述关系特性数据被保存为查找表。

7.根据权利要求2所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述关系特性数据被保存为近似函数。

8.根据权利要求2所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述关系特性数据按每个摄影条件被保存。

9.根据权利要求1所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述X射线CT装置还具备：输入部，其输入算出校正系数所需的参数或条件，

所述校正系数算出部基于所输入的参数或条件来算出所述校正系数。

10.一种重构运算装置，其特征在于，具备：

迭代次数设定部，其设定对投影数据进行修正的迭代处理的迭代次数；

校正系数算出部，其算出对所述迭代处理中包含的第1处理函数和具有与所述第1处理函数不同的特性的第2处理函数的应用比率进行调整的校正系数；

逐次近似投影数据修正处理部，其基于所述迭代次数以及所述校正系数对所述投影数据实施所述迭代处理，生成修正投影数据；和

图像重构部，其使用所述修正投影数据来重构CT图像。

11.一种重构运算方法，其特征在于，包含如下步骤：

迭代次数设定步骤，设定对投影数据进行修正的迭代处理的迭代次数；

校正系数算出步骤，算出对所述迭代处理中包含的第1处理函数和具有与所述第1处理函数不同的特性的第2处理函数的应用比率进行调整的校正系数；

修正投影数据生成步骤，基于所述迭代次数以及所述校正系数对所述投影数据实施所述迭代处理，生成修正投影数据；和

重构步骤，其使用所述修正投影数据来重构CT图像。