[发明专利]用于涂料配制的纹理评估的系统和方法有效
申请号: | 201480015523.1 | 申请日: | 2014-03-11 |
公开(公告)号: | CN105103166B | 公开(公告)日: | 2018-02-23 |
发明(设计)人: | P·M·贝莫尔 | 申请(专利权)人: | PPG工业俄亥俄公司 |
主分类号: | G06N7/00 | 分类号: | G06N7/00;G01J3/46 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 申发振 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 涂料 配制 纹理 评估 系统 方法 | ||
1.一种计算机实现的方法,包括:
在计算机系统处,接收从已经施加到目标样品的目标涂料取得的分光光度信息;
使用计算机处理器从分光光度信息计算一个或多个贝叶斯决策点,其中该一个或多个贝叶斯决策点中的每一个包括从以下中的至少一个取得的值:比色值、比色值的对数、跳动指数、相似性指数、行进指数、行进区域、反射比乘积、各种角光谱数据以及DE平方的总和;
从所计算的一个或多个贝叶斯决策点,确定目标涂料包括:粗糙度值和闪光值;以及
基于粗糙度值和闪光值,使用计算机处理器将纹理值分配给目标涂料;
其中:
所分配的纹理值表示目标涂料包括具体纹理类型中的至少一个的概率。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:使用处理器确定纹理值是否在可接受的公差内。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,确定纹理值是否在可接受的公差内包括应用贝叶斯过程。
4.根据权利要求1所述的方法,还包括:使用处理器确定所确定的纹理的范围。
5.根据权利要求4所述的方法,还包括:使用计算机处理器确定所确定的纹理的范围是否在可接受的公差内。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,确定所确定的纹理的范围是否在可接受的公差内包括应用贝叶斯过程。
7.根据权利要求1所述的方法,其中该一个或多个贝叶斯决策点被配置成前馈型设计。
8.一种系统,包括:
一个或多个处理器;以及
一个或多个在其上存储有可执行指令的计算机可读介质,可执行指令在被该一个或多个处理器执行时,配置计算机系统进行至少以下操作:
接收从已经施加到目标样品的目标涂料取得的分光光度信息;
使用该一个或多个处理器从分光光度信息计算一个或多个贝叶斯决策点,其中该一个或多个贝叶斯决策点中的每一个包括从以下中的至少一个取得的值:比色值、比色值的对数、跳动指数、相似性指数、行进指数、行进区域、反射比乘积、各种角光谱数据以及DE平方的总和;
基于该一个或多个贝叶斯决策点的结果,将纹理值分配给目标涂料;
其中:
所分配的纹理值表示目标涂料包括至少一个特定的纹理类型的概率。
9.根据权利要求8所述的系统,还包括与该一个或多个处理器通信的分光光度计。
10.根据权利要求8所述的系统,还包括与该一个或多个处理器通信的显示设备。
11.一种装置,包括:
分光光度计,被配置为从目标涂料收集信息;以及
计算机系统,用于近似目标涂料是否具有特定的纹理,该特定的纹理具有某个纹理值或纹理类型,计算机系统包括:
一个或多个处理器;以及
一个或多个在其上存储有可执行指令的计算机可读介质,可执行指令在被该一个或多个处理器执行时,配置计算机系统进行至少以下操作:
在计算机系统处,接收从目标涂料取得的分光光度信息;
使用该一个或多个处理器从分光光度信息计算一个或多个贝叶斯决策点,其中该一个或多个贝叶斯决策点中的每一个包括从以下中的至少一个取得的值:比色值、比色值的对数、跳动指数、相似性指数、行进指数、行进区域、反射比乘积、各种角光谱数据以及DE平方的总和;
从所计算的一个或多个贝叶斯决策点,确定目标涂料包括所计算的粗糙度值;以及
基于所计算的目标涂料的粗糙度值,使用该一个或多个处理器将纹理值分配给目标涂料;
其中所分配的纹理值表示目标涂料包括具体纹理类型中的至少一个的概率。
12.根据权利要求11所述的装置,还包括:用于确定所分配的纹理值是否在可接受的公差内的部件。
13.根据权利要求12所述的装置,其中,用于确定所分配的纹理值是否在可接受的公差内的部件包括用于应用贝叶斯过程的部件。
14.根据权利要求11所述的装置,还包括:用于确定潜在的纹理的范围的部件。
15.根据权利要求14所述的装置,还包括:用于确定所确定的纹理的范围是否在可接受的公差内的部件。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于PPG工业俄亥俄公司,未经PPG工业俄亥俄公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480015523.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于顶点误差校正的方法和装置
- 下一篇:用于检测时钟窜改的设备和方法