[发明专利]双极型晶体管有效

专利信息
申请号: 201480008941.8 申请日: 2014-02-13
公开(公告)号: CN104995724B 公开(公告)日: 2017-09-01
发明(设计)人: 梅本康成;黑川敦;西明恒和 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: H01L21/331 分类号: H01L21/331;H01L29/737
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 李洋,舒艳君
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 双极型 晶体管
【权利要求书】:

1.一种双极型晶体管,其特征在于,具备:

第一导电型的子集电极层;

集电极层,层叠于所述子集电极层;

第二导电型的基层,层叠于所述集电极层,导电型与所述第一导电型相反;以及

所述第一导电型的发射极层,层叠于所述基层,

所述集电极层具备:

所述第一导电型的多个第一半导体层;以及

所述第二导电型的多个第二半导体层,分别设置在各个所述第一半导体层之间。

2.根据权利要求1所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述第二半导体层的载流子浓度比第一半导体层的载流子浓度小。

3.根据权利要求1或2所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述第二半导体层的载流子层浓度的和是109cm-2以上,且比1011cm-2小。

4.根据权利要求1或2所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述第一半导体层以及第二半导体层由同一半导体形成。

5.根据权利要求3所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述第一半导体层以及第二半导体层由同一半导体形成。

6.根据权利要求1或2所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述发射极层与所述基层形成异质结,并且所述发射极层的带隙比所述基层的带隙大。

7.根据权利要求3所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述发射极层与所述基层形成异质结,并且所述发射极层的带隙比所述基层的带隙大。

8.根据权利要求4所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述发射极层与所述基层形成异质结,并且所述发射极层的带隙比所述基层的带隙大。

9.根据权利要求5所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述发射极层与所述基层形成异质结,并且所述发射极层的带隙比所述基层的带隙大。

10.一种双极型晶体管,其特征在于,具备:

第一导电型的子集电极层;

集电极层,层叠于所述子集电极层;

第二导电型的基层,层叠于所述集电极层,导电型与所述第一导电型相反;以及

所述第一导电型的发射极层,层叠于所述基层,

所述集电极层具备:

所述第一导电型的至少一个第一半导体层;以及

所述第二导电型的多个第二半导体层,被插入所述第一半导体层的至少一个以上的半导体中。

11.根据权利要求10所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述第二半导体层的载流子浓度比第一半导体层的载流子浓度小。

12.根据权利要求10或者11所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述第二半导体层的载流子层浓度的和是109cm-2以上,且比1011cm-2小。

13.根据权利要求10或者11所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述第一半导体层以及第二半导体层由同一半导体形成。

14.根据权利要求12所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述第一半导体层以及第二半导体层由同一半导体形成。

15.根据权利要求10或者11所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述发射极层与所述基层形成异质结,并且所述发射极层的带隙比所述基层的带隙大。

16.根据权利要求12所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述发射极层与所述基层形成异质结,并且所述发射极层的带隙比所述基层的带隙大。

17.根据权利要求13所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述发射极层与所述基层形成异质结,并且所述发射极层的带隙比所述基层的带隙大。

18.根据权利要求14所述的双极型晶体管,其特征在于,

所述发射极层与所述基层形成异质结,并且所述发射极层的带隙比所述基层的带隙大。

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