[发明专利]异物检测装置、异物检测方法以及非接触充电系统有效
| 申请号: | 201480008199.0 | 申请日: | 2014-02-18 |
| 公开(公告)号: | CN104981966B | 公开(公告)日: | 2018-08-03 |
| 发明(设计)人: | 宫下功宽 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号: | G01V3/10 | 分类号: | G01V3/10;H02J7/00;H02J50/60 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 韩聪 |
| 地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 异物 检测 装置 方法 以及 接触 充电 系统 | ||
1.一种异物检测装置,具备:
检测用线圈;
发送电路,其生成不平衡信号;
同轴电缆,其对所述发送电路生成的所述不平衡信号进行传输;
平衡不平衡变换电路,其将从所述同轴电缆输入的所述不平衡信号变换为平衡信号,并将所述平衡信号输出到所述检测用线圈;
检测电路,其根据从所述检测用线圈反射的功率分量即反射功率的频率特性的变化来检测异物;和
收纳送电线圈的送电线圈壳体,
所述检测用线圈配置在所述送电线圈的上方并收纳在所述送电线圈壳体中,
所述检测用线圈被配置成所述送电线圈壳体的表面与所述检测用线圈之间的距离比所述送电线圈与所述检测用线圈之间的距离短。
2.根据权利要求1所述的异物检测装置,其中,
所述检测电路根据所述反射功率的匹配频率的变化量来检测异物。
3.根据权利要求1所述的异物检测装置,其中,
所述检测电路在所述反射功率的匹配频率高于基准匹配频率的情况下检测为异物是金属,在所述反射功率的匹配频率低于基准匹配频率的情况下检测为异物是水。
4.根据权利要求1所述的异物检测装置,其中,
所述检测用线圈由多个线圈构成,
所述异物检测装置还具备短路电路,该短路电路将所述检测用线圈中未被选择的线圈的两端子短路。
5.一种非接触充电系统,具备:
权利要求1~4中任意1项所述的异物检测装置;
送电线圈;和
高频振荡源,其向所述送电线圈供给给定频率的高频功率。
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