[发明专利]通过断层摄影用于轮胎无损检测的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201480007435.7 申请日: 2014-02-04
公开(公告)号: CN105102966B 公开(公告)日: 2018-08-28
发明(设计)人: A.德克鲁;F.菲卡洛拉;O.鲁鲍德;O.弗朗索瓦 申请(专利权)人: 赛克斯普拉斯公司
主分类号: G01N23/18 分类号: G01N23/18;G01N23/046;G01M17/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 葛飞
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 通过 断层 摄影 用于 轮胎 无损 检测 装置 方法
【说明书】:

本发明涉及一种用于检测轮胎(2)的装置,其用于表示所述轮胎的外壳的片段的断层摄影图像,该装置包括布置在所述轮(2)外侧的电离辐射源(11)和用于接收所述辐射的检测器(12),所述检测器(12)相对于至少一部分的外壳位于与所述源(11)对立的位置,所述轮胎的轴线(X‑X)平行于穿过所述源(11)的焦点(F)和所述检测器(12)的截面平面(P)运行,然而,根据预定的角度偏移范围,关于垂直于所述截面平面(P)的旋转轴线(Z‑Z),所述轮胎和源‑检测器组件以相对于彼此的旋转运动来移动。根据本发明,在检测轴线的执行中,所述检测器(12)被设计成置于所述轮胎(2)的中心内部区域(20)中。

技术领域

本发明涉及一种基于轮胎的X射线探测的断层摄影检查方法,用于其内部机构的非破坏性检查。本发明还涉及一种用于执行该方法的装置。更明确地,根据本发明的方法和装置用于轮胎切片的断层摄影图像的表示。

背景技术

使用包括源-检测器组件的断层摄影设备获取物体部分的断层摄影图像包括朝该物体发射X射线入射光束,同时检测器能够测量穿过该物体的X射线的吸收,该吸收被链接到构成所研究物体的材料密度。已知多种扫面并且所控制的方向可能已知,收集在检测器的检测单元上的信号经过适当的数字处理之后,考虑在截面平面每个点处的X射线的吸收值,因此知道构成物体的材料密度。该密度不同值的认识可能重建物体部分的图像。

通过X射线断层扫描检查轮胎的装置是已知的,其由Yxlon公司开发并且在“Y.CT轮胎”基准下出售。该装置包括布置在轮胎侧壁两侧的X射线管和线性检测器,该轮胎带入源与检测器之间的竖直位置,以便通过轮胎关于竖直轴线的旋转来获得轮胎外罩径向横截面中的三维视图。然而,该装置被布置成能够检查安装在轮圈上并充气的轮胎,并且其必须完全地位于源与检测器之间。该装置用于研究和开发的目的以分析负载下轮胎的行为。然而,在制造过程中其不适于系统的检查。实际上,除了造影采集时间非常长,必须用高能量执行X射线的发射以能够穿过金属、损害关于制造轮胎的橡胶的信息。因此,所用的辐射能量非常高以,一方面,能够正确地显示构成轮胎外罩的橡胶,另一方面,能够正确地显示橡胶中金属板层的位置。换言之,在所产生的图像上仅构成轮胎外罩的金属板层是可见的。

此外,专利文献EP0471096A1公开了一种通过X断层摄影检查轮胎的装置,其中,仅一半轮胎布置在源与检测器之间,在检查周期中,检测器穿透轮胎的内部。该解决方案呈现的优点是需要较低能量的X射线,这改善了所获图像的质量,特别是金属与组合物组分之间的差异。然而,该装置呈现了许多缺点。首先,轮胎的检查很慢,因为它需要一方面源-检测器装置与另一方面轮胎之间相对位移的多个周期,这些相对位移依次包括沿横向直线轴线的往返行程以及根据旋转运动的角增量。此外,当该装置用于检查基本上不同尺寸的轮胎时,这些相对位移周期必须被修改,这复杂和扩展了基于轮胎尺寸变化的设备的参数化和设立。

发明内容

在该背景下,本发明的目的是提出一种用于通过断层摄影检查轮胎的装置和方法,释放先前所描述的限制中的至少一个,特别是,在减少的周期时间,能够重建断层摄影图像,展示金属板材与构成轮胎外罩的聚合物层之间放大的差异,并且还能够通过尺寸变化时简化设置来适用宽范围的轮胎尺寸。

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