[发明专利]降级的经量子冗余译码状态的校正子有效
申请号: | 201480004941.0 | 申请日: | 2014-01-06 |
公开(公告)号: | CN104919476B | 公开(公告)日: | 2018-03-02 |
发明(设计)人: | 阿列克谢·阿西赫明 | 申请(专利权)人: | 阿尔卡特朗讯 |
主分类号: | G06N99/00 | 分类号: | G06N99/00 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 | 代理人: | 林斯凯 |
地址: | 法国布洛*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 降级 量子 冗余 译码 状态 校正 | ||
1.一种适于在测量校正子中使用的设备,其包括:
装置,其具有用以接收物理处理过的经量子冗余译码状态的对应n个物理对象的n个输入端口且具有用以输出所述物理处理过的经量子冗余译码状态中的所述n个物理对象的n个输出端口,所述装置经配置以通过使所述n个物理对象通过所述装置而测量所述物理处理过的经量子冗余译码状态的校正子的位;且
其中所述装置经配置以通过所述使所述n个物理对象通过所述装置而测量所述校正子的所测量位中的一些所测量位的奇偶校验位。
2.根据权利要求1所述的设备,其中所述装置包含串联连接的测量装置的序列,所述测量装置中的每一者经配置以接收及传输所述n个物理对象且经配置以测量所述校正子的所述位中的一者或所述校正子的所述所测量位中的一些所测量位的所述奇偶校验位。
3.根据权利要求2所述的设备,其中所述测量装置中的每一者包含量子门的量子电路。
4.根据权利要求2所述的设备,其中所述测量装置的真子集经配置以测量所述校正子的所述位,使得所述校正子的每一位由所述真子集的所述测量装置中的不同一者测量。
5.根据权利要求4所述的设备,其进一步包括电子控制器,所述电子控制器经连接以接收所述校正子的所述所测量位及所述所测量奇偶校验位且经配置以基于所述所测量奇偶校验位及所述校正子的所述所测量位而确定所述校正子的经错误校正值。
6.根据权利要求5所述的设备,其进一步包括错误校正模块,所述错误校正模块经配置以基于所述校正子的由所述电子控制器产生的经错误校正值而对所述物理处理过的经量子冗余译码状态进行错误校正。
7.一种适于在测量校正子中使用的设备,其包括:
输入寄存器,其经连接以接收并存储n个量子位的物理状态;
多个辅助寄存器,所述多个辅助寄存器中的每一辅助寄存器经配置以传输一或多个量子位的预设置状态;
量子电路,其经构造以基于从所述输入寄存器接收的所述物理状态而变换所述预设置状态且将所述物理状态输出到输出寄存器;及
多个检测器,所述多个检测器中的每一检测器经连接以从所述量子电路接收所述经变换预设置状态中的对应一者且经配置以通过测量所述经变换预设置状态中的所述对应所接收一者的一或多个量子位而产生一值;且
其中所述量子电路经配置以形成所述经变换预设置状态,使得所产生值测量所述物理状态的校正子的位,且使得所述所产生值中的至少一者测量所述校正子的所测量位的奇偶校验位。
8.根据权利要求7所述的设备,其进一步包括控制器,所述控制器经配置以从所述检测器接收所述值且经配置以基于测量奇偶校验位的所述值而对所述所产生值中的测量所述校正子的位的一者进行错误校正。
9.根据权利要求7所述的设备,其中所述量子电路经配置以串行产生所述经变换预设置状态。
10.根据权利要求7所述的设备,其中所述量子电路经配置以并行变换所述预设置状态中的至少两者。
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