[发明专利]X射线检查中的动态剂量减小有效

专利信息
申请号: 201480003927.9 申请日: 2014-01-02
公开(公告)号: CN104903708B 公开(公告)日: 2019-09-10
发明(设计)人: D-C.丁卡;M.罗梅尔;S.范里;A.萨弗斯基 申请(专利权)人: 美国科技工程公司
主分类号: G01N23/02 分类号: G01N23/02;G01V5/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 张贵东
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 射线 检查 中的 动态 剂量 减小
【权利要求书】:

1.一种用于动态地调节x射线剂量的方法,所述方法包括:

a.通过在焦点处将电子束撞击在x射线产生靶上生成x射线束;

b.在源准直器处准直x射线束;

c.检测横穿被检查对象的x射线束的一部分;以及

d.通过以保持横穿所述被检查对象的x射线束的部分低于指定限度的方式在所述焦点和所述源准直器之间平移滤波器,动态地插入所述滤波器。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述滤波器是全束滤波器。

3.根据权利要求1所述的方法,其中所述滤波器优选吸收低能量x射线。

4.根据权利要求1所述的方法,其中所述滤波器的吸收取决于滤波器位置。

5.根据权利要求4所述的方法,其中所述滤波器是楔形滤波器。

6.根据权利要求4所述的方法,其中所述滤波器的吸收相对于滤波器位置以阶梯方式变化。

7.根据权利要求1所述的方法,其中所述滤波器是部分束滤波器。

8.一种用于动态地调节x射线剂量的方法,所述方法包括:

a.通过在焦点处将电子束撞击在x射线产生靶上生成x射线束;

b.在源准直器处准直x射线束;

c.检测横穿被检查对象的x射线束的一部分;以及

d.改变所述源准直器的孔径的参数。

9.根据权利要求8所述的方法,其中所述改变的步骤包括改变所述源准直器的孔径尺寸。

10.根据权利要求8所述的方法,其中所述改变的步骤包括改变所述焦点和所述源准直器的相对位置。

11.一种用于动态地调节x射线剂量的方法,所述方法包括:

a.通过在焦点处将电子束撞击在x射线产生靶上生成x射线束;

b.在源准直器处准直x射线束;以及

c.以保持横穿所述被检查对象的x射线束的部分低于指定限度的方式改变表征所述焦点的尺度。

12.根据权利要求11所述的方法,其中改变表征所述焦点的尺度包括散焦所述焦点。

13.一种用于动态地调节x射线剂量的方法,所述方法包括:

a.通过在焦点处将至少两种不同能量的电子束的脉冲撞击在x射线产生靶上生成x射线束;以及

b.响应当x射线束与被检查对象相互作用时检测到的辐射,改变生成的x射线束的不同能量的脉冲的比率。

14.一种用于生成动态调节剂量的x射线束的x射线系统,所述x射线系统包括:

a.用于加速电子束以便在x射线产生靶上形成焦点并且生成x射线束的电子加速结构;

b.用于准直x射线束的源准直器;

c.用于接收横穿被检查对象的x射线束的一部分并且用于生成检测器信号的检测器;

d.通过在所述焦点和所述源准直器之间平移动态可插入的滤波器;以及

e.适合于在所述检测器信号的基础上在所述焦点和所述源准直器之间动态地插入所述滤波器的处理器。

15.根据权利要求14所述的x射线系统,其中所述动态可插入滤波器是全束滤波器。

16.根据权利要求14所述的x射线系统,其中所述动态可插入滤波器是部分束滤波器。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美国科技工程公司,未经美国科技工程公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480003927.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top