[发明专利]利用磁致伸缩测量液体密度的方法在审
申请号: | 201480002492.6 | 申请日: | 2014-12-30 |
公开(公告)号: | CN104969053A | 公开(公告)日: | 2015-10-07 |
发明(设计)人: | 崔仁燮;徐茂教 | 申请(专利权)人: | 群山信息技术株式会社 |
主分类号: | G01N9/12 | 分类号: | G01N9/12 |
代理公司: | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人: | 朱健 |
地址: | 韩国庆尚北道庆山市珍良邑大邱大*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 伸缩 测量 液体 密度 方法 | ||
1.一种利用磁致伸缩测量液体密度的方法,包括以下步骤:
(a)准备密度测量仪器,所述密度测量仪器包括液体表面漂浮物、密度漂浮物、磁致伸缩线路以及密度检测单元,所述液体表面漂浮物配置为上升至液体表面并指示表面的位置,所述密度漂浮物以根据液体密度向上或者向下移动的方式而被设置;
(b)每当液体表面漂浮物以及密度漂浮物被浸入到具有不同密度的液体中时,通过密度检测单元,利用供应至磁致伸缩线路的脉冲以及由液体表面漂浮物的第一磁体以及密度漂浮物的第二磁体产生的磁致伸缩现象,计算与实际效应沉降距离相应的密度以及实际效应沉降距离,并存储与计算的实际效应沉降距离以及密度相应的修正点的参照值,所述实际效应沉降距离为所述液体表面漂浮物与所述密度漂浮物之间沉降距离上的差异;
(c)当测量未知液体的密度时,通过密度检测单元,利用磁致伸缩现象,测量所述液体表面漂浮物与所述密度漂浮物之间的实际效应沉降距离;以及
(d)通过密度检测单元,基于步骤(b)中存储的修正点的参照值以及步骤(c)中测量的实际效应沉降距离,计算未知液体的密度。
2.根据权利要求1所述的方法,其中在步骤(b)中,所述密度测量为具有比所需参照值更精确的值。
3.根据权利要求1所述的方法,其中修正点的参照值存储在密度检测单元的存储器中。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述磁致伸缩线路布置于所述液体表面漂浮物和所述密度漂浮物在其中向上或者向下移动的路径中。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述密度检测单元包括:
拾波线圈,其与所述磁致伸缩线路相连并配置为根据所述磁致伸缩现象产生感应电动势;
信号检测器,其配置为检测所述拾波线圈中感应的电压,基于检测的电压生成检测信号,放大所述检测信号,并以稳定的脉冲形式输出放大的信号;
运算处理器,其配置为基于所述检测信号计算所述实际效应沉降距离以及基于修正点的参照值和所述实际效应沉降距离计算未知液体的密度。
6.根据权利要求1所述的方法,其中所述液体表面漂浮物和所述密度漂浮物设置在包括磁致伸缩线路的金属管的外部周围。
7.根据权利要求1所述的方法,其中步骤(d)包括利用以下等式计算未知液体的密度dx:
其中,“le1”为在步骤(b)中计算的第一实际效应沉降距离,
“le2”为在步骤(b)中计算的第二实际效应沉降距离,
“lex”为在步骤(c)中计算的实际效应沉降距离,
“d1”为与所述第一实际效应沉降距离相应的第一密度,以及
“d2”为与所述第二实际效应沉降距离相应的第二密度。
8.根据权利要求7所述的方法,其中“lex”为根据测量点通过从所述密度漂浮物的沉降距离中减去所述液体表面漂浮物的沉降距离从而获得的沉降距离。
9.根据权利要求7所述的方法,其中“le1”为通过从浸入到具有比待测液体更低密度的液体中的密度漂浮物的沉降距离中减去液体表面漂浮物的沉降距离从而获得的沉降距离。
10.根据权利要求7所述的方法,其中“le2”为通过从浸入到具有比待测液体更高密度的液体中的密度漂浮物的沉降距离中减去液体表面漂浮物的沉降距离从而获得的沉降距离。
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