[实用新型]一种X荧光光谱分析自动标定装置有效
| 申请号: | 201420860993.5 | 申请日: | 2014-12-31 |
| 公开(公告)号: | CN204389412U | 公开(公告)日: | 2015-06-10 |
| 发明(设计)人: | 应刚;栾旭东;张苏伟;方军;吴升海 | 申请(专利权)人: | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
| 主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
| 代理公司: | 无 | 代理人: | 无 |
| 地址: | 215347 江苏省苏州市昆*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 荧光 光谱分析 自动 标定 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及检测仪器领域,具体来说,涉及一种X荧光光谱分析自动标定装置。
背景技术
X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
在X荧光光谱分析中,谱图横坐标为通道,对应元素的能量,谱图纵坐标为计数,表示该能量下接收到的光子数量,代表元素的含量。光谱仪长时间工作后,会发生通道漂移,强度改变等现象,因此需要对光谱仪通道进行校正。同时如果强度变化过大,还需要重新对仪器进行标定。传统光谱仪进行以上工作,需要人为放入不同的已知类别和含量的元素对其校正,仪器无法自动完成上述工作。
目前仪器进行标定的方法,不仅费时费力而且耽误时间,因此迫切需要寻找一种省时省力装置。
实用新型内容
有鉴于此,需要克服现有技术中的上述缺陷中的至少一个。
本实用新型公开了一种X荧光光谱分析自动标定装置,包括具有装有至少两种且种类已知的元素混合物的第一区域和装有作为内标元素的已知元素的第二区域的载板、动力装置以及可进行移动的联接装置;
所述载板通过所述联接装置与所述动力装置联接,并在所述动力装置的运转下进行移动。
进一步地,所述动力装置为马达,所述联接装置为滑轨和滑块,所述马达输出端与螺杆相联,所述螺杆与安装在所述滑轨上的所述滑块联接,所述载板与所述滑块联接并在所述马达运转下推动进行前后移动。
进一步地,所述动力装置为气缸,所述联接装置为滑轨和滑块,所述气缸输出端与安装在所述滑轨上的所述滑块联接,所述载板与所述滑块联接并在所述气缸运转下推动进行前后移动。
进一步地,所述标定装置还包括传感器系统,所述传感器系统包括遮光片和传感器,所述遮光片安装在所述联接装置上,所述传感器安装在基座上。
本实用新型还涉及了相应的标定方法,包括:
步骤1 XRF图谱横纵坐标标定:
将含有至少两种且种类已知的元素混合物的第一区域送至光谱扫描区进行扫描,将所述第一区域内已知元素峰较高或最高的元素固定在其特定通道上;
利用所述第一区域内其他元素在谱图上的通道,并结合所述第一区域内所有元素的能量数据,获得相应的通道点,做图或进行曲线拟合,获得能量刻度曲线,确定不同通道对应的能量数据,实现XRF谱图横坐标的标定;
同时测定所述第一区域内的所有元素的强度,与其标定强度比对,实现XRF谱图纵坐标的自动校准;
步骤2 分析标定结果
在扫描实际样品时,将包含已知元素种类及数量的内标元素的第二区域移动至样品上方,X射线通过第二区域照射到样品上,同时得到第二区域上元素和样品中元素含量,对扫描结果进行质控。
上述方法的实现均是通过自动装置进行实现。
根据本实用新型背景技术中对现有技术所述,传统光谱仪进行以上工作,需要人为放入不同的已知类别和含量的元素对其校正,仪器无法自动完成上述工作;而本实用新型提供的X荧光光谱分析自动标定方法,通过自动化技术利用两组已知元素混合物进行图谱横纵坐标的标定,同时利用已知元素与待测元素进行参照,并通过标定准确的图谱进行样品检测,不仅具有标定简便准确,同时也能够使结果更加精准。
本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1是本实用新型一个实施例的示意图;
其中,1动力装置,2联接装置,3载板,4第一区域,5第二区域
具体实施方式
下面描述的实施例是示例性的,仅用于解释本实用新型,而不能解释为对本实用新型的限制。
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