[实用新型]一种电磁铁综合参数测试仪电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及电磁铁综合参数测试仪，具体涉及一种电磁铁综合参数测试仪电路。

背景技术

目前现有的电磁铁综合参数测试装置，其技术主要采用可调直流稳压源进行测量，在被测电磁铁激励输入端施加稳压电源，手动调节电压从0V缓慢上升，直至听到衔铁动作的声音停止电压的调节，用此方法测量电磁铁二次动作电压，由于操作复杂，必须要有专业人员进行检测，导致测试环节繁琐，工作效率极低，对于大批量的电磁铁生产检测极为困难。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种测试时间短，操作简单，可靠性高，能够提高生产效率的测试电磁铁综合参数的仪表电路，以解决现有技术水平导致的工作效率低的状况。

本实用新型所采用的技术方案是：一种电磁铁综合参数测试仪电路，包括：时钟电路、AD信号采样处理电路、DA信号处理电路、LCD显示驱动电路、功能按钮电路、动作检测电路、通信接口电路及CPU；所述CPU分别连接时钟电路、AD信号采样处理电路、DA信号处理电路、LCD显示驱动电路、键盘接口电路、动作检测电路及通信接口电路。

进一步地，所述时钟电路包括晶振Y1、电容C29及电容C30；所述晶振Y1分别连接电容C29和电容C30；所述电容C29和电容C30分别连接地。

更进一步地，所述AD信号采样处理电路包括A/D转换芯片U32、电容C23、电容C37、电容C38、电容C39、电容C40、电容C24、电容C42、电压源芯片U33、电阻R90、电阻R91、电阻R92、电阻R93、电阻R88、电阻R89、稳压管D44及稳压管D45；所述A/D转换芯片U32的第十二脚、第十四脚、第十五脚及第十六脚分别连接所述CPU；所述电容C37、电容C38、电容C39、电容C40一端分别连接A/D转换芯片U32的第二管脚、第三管脚、第四管脚及第五管脚，这四个电容的另一端分别连接地MGND；所述电容C23一端连接电源VCC，另一端连接A/D转换芯片U32第十一脚；所述电容C24、电容C42、电压源芯片U33及电阻R88一端分别连接A/D转换芯片U32的第八脚，另一端分别连接地MGND；所述电压源芯片U33连接电阻R88；所述电阻R89一端连接A/D转换芯片U32的第八脚，另一端连接+6V电源；所述稳压管D44和稳压管D45一端分别连接A/D转换芯片U32的第三管脚和第二管脚，另一端分别连接地MGND；所述电阻R90、电阻R91、电阻R92、电阻R93一端分别连接A/D转换芯片U32第二管脚、第三管脚、第四管脚及第五管脚，另一端分别连接通道0、通道1、通道2及通道3。

更进一步地，所述DA信号处理电路包括D/A转换芯片U26、电容C32、电容C33、电阻R65、电容C17、电容C41、电阻R64、电位器R87及电源模块U27；所述D/A转换芯片U26的第一脚、第二脚、第三脚及第四脚分别连接CPU；所述D/A转换芯片U26的第八脚分别连接电源VCC和电容C32；所述电容C32的另一端连接地；所述电容C33一端连接电阻R65，另一端连接地；所述电阻R65另一端连接D/A转换芯片U26的第七脚；所述D/A转换芯片U26的第五脚连接地；所述D/A转换芯片U26的第六脚分别连接电阻R64、电容C17、电容C41及电源模块U27的第二脚；所述电源模块U27的第三脚分别连接电容C17、电容C41和地；所述电源模块U27的第一脚连接电位器R87；所述电阻R64一端连接电源模块U27的第二脚，另一端连接+6V电源。

更进一步地，所述LCD显示驱动电路包括LCD接口J4、电位器W5、缓冲器U6及与门U3B；所述LCD接口J4的第五脚至第十二脚分别连接缓冲器U6的第十二脚至第十九脚，作为数据端口DATA0至DATA7；所述LCD接口J4的第一脚和第三脚分别连接地；所述LCD接口J4的第二脚和第四脚分别连接电源VCC；LCD接口J4的第十三脚和第十四脚分别连接CPU；所述LCD接口J4的第十七脚和第十八脚分别连接电位器W5；所述电位器W5的另一端连接地；所述与门U3B的第四脚和第五脚分别连接CPU，第六脚连接缓冲器U6的第十一脚；所述缓冲器U6的第二脚至第九脚分别连接CPU；所述缓冲器U6的第一脚连接地。

更进一步地，所述键盘接口电路包括二极管D32、二极管D33、二极管D34、二极管D35、二极管D36、二极管D37、二极管D38、二极管D39、二极管D23及键盘接口J5；所述二极管D32、二极管D33、二极管D34、二极管D35、二极管D36、二极管D37、二极管D38、二极管D39正极分别连接CPU，负极分别连接键盘接口J5。