[实用新型]一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种表面处理形位检测技术设备领域，特别涉及一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具。

背景技术

随着科学技术的进步，产品的品质与外观的要求越来越高，一方面制造厂商要满足制造标准的要求，另一方面迫使制造厂商也要不断的降低成本；特别是高端产品的制造，要求对产品的各个环节进行成本压缩，高端产品客户对品质的要求升高，对外观件在全检时需寻求快速高效且不会对产品造成损伤的方法；如何降低设备、人力以及时间成本的投入，并减少检验过程中产生的报废不良，是检验检具设计开发的方向。

现有技术中，运动手环是高端产品，由于其外形的不规则性，其上盖的制造与检测难度大；现有检测技术存在的不足是：使用千分尺、OMM等测量精密仪器进行检测，采购及维护成本高，操作繁琐；相关仪器测量需与产品紧密接触，会对产品外观造成损伤，导致报废发生；精密仪器操作费时，需消耗大量时间成本。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具，针对现有技术中的不足，采用特制的检测治具，运动手环的上盖为不规则槽形结构，分别设计精密检测组件，对手环上盖的长度、宽度、高度进行检测，从而简化了检测操作，提高了检测的精度和效率，避免了检测对产品的损伤，节省了检测时间，有利于大批量产品全检。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下：一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具，简称形位检具；包括长度检测块、长检槽A、长检槽B、宽检块A、宽检块B、高检块A、高检块B、检测底座、手环上盖、定位螺孔，其特征在于：

所述形位检具包括长度检测块、宽度检测块、高度检测块、检测底座；所述形位检具为硬质合金材料通过高精度加工制造的矩形体，所述长度检测块上同向设置有长检槽A和长检槽B，所述长检槽A的长度设置为手环上盖的上限长度，所述长检槽B的长度设置为手环上盖的下限长度；所述宽度检测块为硬质合金材料通过高精度加工制造，所述宽度检测块为矩形板，包括宽检块A和宽检块B，所述宽检块A和宽检块B其下侧加工有槽口，所述槽口将所述宽检块A和宽检块B分为左入块和右入块，所述左入块的宽度为手环上盖的下限宽度尺寸，所述右入块的宽度为手环上盖的上限宽度尺寸；所述宽检块A为一倍公差检测块，所述宽检块B为二倍公差检测块；所述高度检测块为硬质合金材料通过高精度加工制造的矩形板，其下侧面开设有矩形槽口，所述高度检测块包括高检块A和高检块B，所述高检块A和高检块B的矩形槽口二侧设置有定位螺孔；所述高度检测块与检测底座配合使用，检测底座中部对称设置有定位螺孔，所述定位螺孔与所述高检块A和高检块B上的定位螺孔位置、尺寸匹配设置；所述高检块A和高检块B通过螺栓与所述检测底座固定连接；所述高检块A的矩形槽口高度设置为手环上盖高度的上限尺寸；所述高检块B的矩形槽口高度设置为手环上盖高度的下限尺寸。

所述长检槽A对手环上盖的上限尺寸进行检测，所述手环上盖不能放入所述长检槽A内者为不良品，能够放入所述长检槽A中手环上盖，放入所述长检槽B中，所述手环上盖能够放入长检块B中者为不良品，不能放入所述长检槽B中的手环上盖为合格产品。

所述宽检块A和宽检块B分别对手环上盖的宽度进行检测，所述手环上盖通过宽检块A左入块不能进入，右入块能够进入，同时通过宽检块B左入块能进入，而右入块不能进入的为合格产品；其它为不良品。

所述高检治块A和高检块B分别装配在不同的检测底座上，所述手环上盖能够通过高检块A矩形槽口，同时不能够通过所述高检块B的矩形槽口的产品为合格品；否则为不良品。

本实用新型的工作原理：通过精加工，对长检槽A、B；宽检块A、B；高检块A、B设定手环长宽高尺寸的上下限，并通过上下限的限制，确定手环上盖的尺寸符合标准，对手环上盖的尺寸进行检验确认。