[实用新型]一种双轴双探测偏振光电自准直仪有效

专利信息
申请号: 201420775489.5 申请日: 2014-12-11
公开(公告)号: CN204240946U 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 姜世平;曹志明;张宜文;胡玲 申请(专利权)人: 四川云盾光电科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/26;G02B27/30
代理公司: 四川力久律师事务所 51221 代理人: 林辉轮;王芸
地址: 610207 四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 双轴双 探测 偏振 光电 准直仪
【权利要求书】:

1.一种双轴双探测偏振光电自准直仪,其特征是,包括第一光源、第二光源、第一分划板、第二分划板、第一分光棱镜、第二分光棱镜、1/4波片、准直透镜;

所述第二分光棱镜为偏振分光棱镜;

所述第一分划板和第二分划板均为“一字”型分划板;第一和第二分划板上的“一字”形刻线相互垂直摆放;

当第一光源开启后,所发出的光线照亮第一分划板,经过所述第一分划板的光透过过第一分光棱镜后,进入第二分光棱镜,其后透过1/4波片,进入准直透镜后,投射到目标反射面上;目标反射面将光反射后回来后经过准直透镜的汇聚后,依次透过1/4波片、第二分光棱镜;并经过第二分光棱镜的反射后,入射到下位器件中;

当第二光源开启后,所发出的光线照亮第二分划板,经过所述第二分划板的光经过第一分光棱镜的反射作用后,透过第二分光棱镜,经过1/4波片后,进入准直透镜,投射到目标反射面上;目标反射面将光反射后回来后经过准直透镜的汇聚后,透过1/4波片并经过第二分光棱镜的反射后,入射到下位器件中。

2.如权利要求1所述的一种双轴双探测偏振光电自准直仪,其特征是,包括第三分光棱镜、第一PSD探测器和第二PSD探测器;经过第二分光棱镜反射的光信号经过第三分光棱镜的透射和反射作用后分别进入第一PSD探测器和第二PSD探测器中。

3.如权利要求2所述的一种双轴双探测偏振光电自准直仪,其特征是,所述第一光源和第二光源为LED光源。

4.如权利要求3所述的一种双轴双探测偏振光电自准直仪,其特征是,所述准直透镜为胶合透镜组。

5.如权利要求1至4之一所述的一种双轴双探测偏振光电自准直仪,其特征是,所述第一分划板上的“一字”刻线位于自准直仪的中轴线的正上方,平行于自准直仪的轴线。

6.如权利要求5之一所述的一种双轴双探测偏振光电自准直仪,其特征是,所述第二分划板上的“一字”刻线,水平摆放于自准直仪的中轴线的正上方,垂直于自准直仪的轴线。

7.如权利要求1至4之一所述的一种双轴双探测偏振光电自准直仪,其特征是,所述第二分划板上的“一字”刻线位于自准直仪的中轴线的正上方,平行于自准直仪的轴线。

8.如权利要求7之一所述的一种双轴双探测偏振光电自准直仪,其特征是,所述第一分划板上的“一字”刻线,水平摆放于自准直仪的中轴线的正上方,垂直于自准直仪的轴线。

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