[实用新型]用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置

权利要求书

1.一种用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，包括夹具框架（14），其特征在于：所述夹具框架（14）中部开设有通光孔（15），所述夹具框架（14）的侧面上均布有若干固定旋钮（6、7、8、9），部分固定旋钮（6、7、8、9）上设有螺旋千分尺（2、3、4、5），所述夹具框架（14）顶面均布有若干用于压紧光学元件（16）的固定旋杆（10、11、12、13）。

2.如权利要求1所述的用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，其特征在于：所述夹具框架（14）为矩形或方形。

3.如权利要求2所述的用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，其特征在于：所述夹具框架（14）的每个侧面上的固定旋钮（6、7、8、9）均至少设置两个。

4.如权利要求3所述的用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，其特征在于：设有螺旋千分尺（2、3、4、5）的固定旋钮（6、7、8、9）分布在相互垂直的两侧面上。

5.如权利要求2所述的用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，其特征在于：所述固定旋杆（10、11、12、13）设置有四个，且四个固定旋杆（10、11、12、13）分别位于夹具框架（14）的四角。

6.如权利要求5所述的用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，其特征在于：所述固定旋杆（10、11、12、13）上设有聚四氟乙烯垫片。

7.如权利要求1-6中任一所述的用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，其特征在于：所述夹具框架（14）的侧面上设有夹具把手（1）。