[实用新型]一种非接触式高度测量仪

说明书

技术领域

本实用新型属于测量工具技术领域，具体涉及一种非接触式高度测量仪。

背景技术

测量物体高度、长度等尺寸时，最常用的量具是游标卡尺、千分尺、高度尺等，它们都属于接触式测量，对强度低的物体，比如陶瓷压制生坯，接触测量很容易对其造成损伤，所以，此种情况下非接触测量很有必要。

激光具有直线性好、发散角小、能量集中等特点。激光检测是一种非接触式测量，具有精度高、测量范围大、检测时间短、空间分辨率高等特点。激光检测技术应用已十分广泛，如激光干涉测长、激光测距、激光测振、激光测速、激光散斑测量、激光全息、激光扫描、激光跟踪、激光光谱分析等，这些都显示了激光测量的巨大优越性。随着激光技术的发展,微型激光发生器的应用也日益普遍,激光测量的精度、便携性都得到大大提高，使得利用激光进行非接触检测成为可能。

发明内容

本实用新型的目的是克服现有技术的不足而提供一种非接触测量的高度尺，该装置在检测强度低的物体尺寸时，可以避免接触测量时造成的测量对象人为损伤。

为了达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

本实用新型提供一种非接触式高度测量仪，包括底座和刻度尺尺柱，所述刻度尺尺柱与底座的上表面相垂直，刻度尺尺柱的上端嵌入带盲孔的固定板中，刻度尺尺柱的下端固定在底座上开设的尺柱轨道上；在所述固定板与尺柱轨道之间设有与刻度尺尺柱相平行的激光发生器尺柱，激光发生器尺柱的上端嵌入固定板中，激光发生器尺柱的下端可拆卸安装在尺柱轨道上；激光发生处理器通过锁紧机构固定在穿入激光发生处理器中的激光发生器尺柱上，在刻度尺尺柱上与激光发生处理器相对应位置连接有数显装置。

一种非接触式高度测量仪，包括底座和刻度尺尺柱，所述刻度尺尺柱与底座的上表面相垂直，刻度尺尺柱的上端嵌入带盲孔的固定板中，刻度尺尺柱的下端固定在底座上开设的尺柱轨道上；激光发生处理器通过锁紧机构固定在穿入激光发生处理器中的刻度尺尺柱上。

所述尺柱轨道为椭圆环型凹槽。

与现有技术相比，本实用新型取得的有益效果：

本实用新型通过非接触测量，可以避免对强度低物体的人为损伤，并可提高测量效率。

附图说明

图1是本实用新型结构示意图之一；

图中，1、底座，2、尺柱轨道，3、激光发生处理器，4、刻度尺尺柱，5、激光发生器尺柱，6、刻度数显表；

图2是本实用新型结构示意图之二；

图中，1、底座，2、尺柱轨道，3、激光发生处理器，4、刻度尺尺柱；

图3是两种典型的激光光束形状；

图4是本实用新型实施示意图之一；

图5是本实用新型的实施示意图之二。

具体实施方式

    下面结合附图对本实用新型进一步说明，本实用新型主要应用在低强度物体的高度测量，比如陶瓷制品压制湿坯件。

实施例1

参照图1所示，一种非接触式高度测量仪，包括底座1和刻度尺尺柱4，刻度尺尺柱4与底座1的上表面相垂直，刻度尺尺柱4的上端嵌入带盲孔的固定板中，刻度尺尺柱4的下端固定在底座1上开设的尺柱轨道2上，尺柱轨道2为椭圆环型凹槽；在固定板与尺柱轨道2之间设有与尺柱相平行的激光发生器尺柱5，激光发生器尺柱5的上端嵌入固定板中，激光发生器尺柱5的下端可拆卸安装在尺柱轨道2上；激光发生处理器3通过锁紧机构固定在穿入激光发生处理器3中的激光发生器尺柱5上，在刻度尺尺柱4上与激光发生处理器相对应位置连接有刻度数显表6。

实施例2

参照图2所示，一种非接触式高度测量仪，包括底座1和刻度尺尺柱4，刻度尺尺柱4与底座1的上表面相垂直，刻度尺尺柱4的上端嵌入带盲孔的固定板中，刻度尺尺柱4的下端固定在底座1上开设的尺柱轨道2上，尺柱轨道2为椭圆环型凹槽；激光发生处理器3通过锁紧机构固定在穿入激光发生处理器3中的刻度尺尺柱4上。

实施例3：

参照图1、图3和图4所示，将陶瓷块放置在底座1上面，调节激光发生处理器3的位置，使激光光束与陶瓷块的上端面平齐，读取刻度尺尺柱4上的数值，即为所测陶瓷块的高度。如激光发生处理器3所处位置不便于测量，可以沿尺柱轨道2改变其位置。

实施例4：

参照图2、图3和图5所示，将需要检测的陶瓷块a、b放在底座1上，将激光发生处理器3在刻度尺尺柱4上的位置调整至陶瓷块的要求高度，激光光束落在陶瓷块a的上端面以下，说明陶瓷块a的高度超出要求高度，为测量陶瓷块b，调整激光发生处理器3的位置至图中虚线处，激光光束没有落在陶瓷块b上，说明陶瓷块b的高度比控制高度低。