[实用新型]射频测试治具机架

说明书

技术领域

本实用新型涉及射频测试治具领域，尤其涉及一种射频测试治具机架。

背景技术

现有技术的射频测试治具机架主要是由托板、气缸、导轨和滚动轴承等结构组成。该托板在气缸和导轨以及滚动轴承的作用下，滑动进/出射频测试治具机架，托板在导轨上进出不顺畅，上模架下压后，托板前端部分无受力支撑点导致托板变形产生托板移位现象，机架结构运行一段时间后上、下针板产生间隙，影响上下针板对位的精准。

实用新型内容

本实用新型的主要目的为提供一种托板进/出治具顺畅、使针板对位精准的射频测试治具机架。

为了实现上述发明目的，本实用新型提出一种射频测试治具机架，包括底板、托板、滑动组件和驱动装置；

所述底板上设置所述滑动组件，滑动组件上设置所述托板，所述驱动装置连接所述托板；所述驱动装置驱动托板在滑动组件上移动；

所述滑动组件包括一组静滑杆、一组动滑杆、轴承固定块、第一定位座和第二定位座；所述第一定位座和第二定位座固定设置于底板上，且分别固定连接所述静滑杆的两端；所述轴承固定块固定连接所述托板，该轴承固定块上设置有对应静滑杆数量的第一直线轴承，并对应套接于静滑杆；所述第一定位座上设置有对应动滑杆数量的第二直线轴承，并对应套接动滑杆；所述轴承固定块上固定连接所述动滑杆的一端，动滑杆的另一端固定连接所述托板。

进一步地，所述轴承固定块沿静滑杆滑动方向的两侧分别设置缓冲块。

进一步地，所述驱动装置为笔型气缸。

进一步地，还包括连接块，所述动滑杆通过所述连接块固定连接所述托板。

进一步地，所述第一定位座呈长方体设置，该第一定位座沿动滑杆滑动方向的外侧的上棱角处向内形成凹陷部；所述连接块可适配地滑动至所述凹陷部内。

进一步地，射频测试治具机架所述还包括竖直滑杆及其对应的法兰；

所述竖直滑杆的底部突出于所述法兰，所述底板上设置对应竖直滑杆底部的底孔，所述竖直滑杆的底部与底孔适配安装，且所述法兰紧密连接所述底板。

进一步地，所述静滑杆和动滑杆上均设置镀铬层。

本实用新型的射频测试治具机架，其中，静滑杆固定在第一定位座和第二定位座之间，轴承固定块固接托板，通过第一直线轴承套接于静滑杆上，且连接动滑杆的一端；动滑杆的另一端通过第二直线轴承穿过第一定位座后固接于托板；轴承固定块带动托板沿静滑杆移动，动滑杆和静滑杆配合，提供支撑力于托板，防止托板在滑动过程中横向移位或上翘，保证射频测试治具机架上的上下针板对位准确；而且使用两组滑杆以及滑动连接部件使用直线轴承，托板滑动过程更加的顺畅；而且滑杆安装简单，成本低廉。

附图说明

图1 是本实用新型一实施例的射频测试治具机架的结构示意图；

图2 是本实用新型一实施例的射频测试治具机架托板伸出时的结构示意图。

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

参照图1和图2，提出本实用新型一实施例的一种射频测试治具机架，其特征在于，包括底板10、托板20、滑动组件30和驱动装置40，还可以包括上压板60、上针板、下针板等结构；所述底板10上设置所述滑动组件30，滑动组件30上设置所述托板20，所述驱动装置40连接所述托板20；所述驱动装置40驱动托板20在滑动组件30上移动；所述滑动组件30包括一组静滑杆31、一组动滑杆32、轴承固定块33、第一定位座34和第二定位座35；所述第一定位座34和第二定位座35固定设置于底板10上，且分别固定连接所述静滑杆31的两端；所述轴承固定块33固定连接所述托板20，该轴承固定块33上设置有对应静滑杆31数量的第一直线轴承，并对应滑动套接于静滑杆31；所述第一定位座34上设置有对应动滑杆32数量的第二直线轴承，并对应滑动套接动滑杆32；所述轴承固定块33上固定连接所述动滑杆32的一端，动滑杆32的另一端固定连接所述托板20。本实施例中，驱动装置40可以电机带动齿轮、链条等传动机构，驱动托板20滑动；也可以通过气缸驱动托板20滑动。所述一组静滑杆31，是指包括至少一根静滑杆31；所述一组动滑杆32是指包括至少一根动滑杆32。本实施例中，滑动组件30包括两组，对称设置于底板10上。